[其他]大存儲器有效地址測試法無效
| 申請號： | 88100490 | 申請日： | 1988-02-01 |
| 公開（公告）號： | CN88100490A | 公開（公告）日： | 1988-08-24 |
| 發明（設計）人： | 凱文·約翰·阿什;杰克·哈維·德倫博格;雷蒙德·朗尼·帕森斯 | 申請（專利權）人： | 國際商用機器公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人： | 陳景峻 |
| 地址： | 美國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 為了允許更換預先確定的一定量的有缺陷的存儲矩陣模塊，在存儲器設計時，每個插卡上有一些備份。由于錯誤校正碼邏輯提供了雙倍的位校正，在一個插卡上可以校正一些位錯誤，在雙卡上可以校正大量的位錯誤，而雙卡所校正的位錯小于單卡上校正的位錯的兩倍。因此，地址測試圖形產生的差別將大于存儲在被測地址的數據與存儲在地址線發生故障時可能存儲地址的數據之間位的差別的個數。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 存儲器 有效 地址 測試 | ||
【主權項】：
1、一種大存儲矩陣地址線故障測試方法，其實現步驟有下列特征：寫第一個位圖形到第一個存儲器地址，這個地址包含被測位為1；寫第二個位圖形到第二個存儲器地址，這個地址包含被測位為0；從上述兩個地址讀數據；檢查數據永久性錯誤的位個數，與預先確定的個數比較；對上述地址每一位重復上述操作，直到所有的地址線都測試完；寫上述第一個位圖形到上述第二個存儲器地址，這個地址包括被測位為O；寫上述第二個位圖形到上述第一個存儲器地址。這個地址包括被測位為1；從上述兩個地址讀數據；檢查數據永久性錯誤的位個數，與預先確定的個數比較；對上述地址每一位重復上述操作，直到所有的地址線都測試完。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于國際商用機器公司，未經國際商用機器公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/patent/88100490/，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：電磁線圈
- 下一篇：汽輪機中減少葉片斷落的裝置
