[其他]大存儲器有效地址測試法無效
| 申請號： | 88100490 | 申請日： | 1988-02-01 |
| 公開（公告）號： | CN88100490A | 公開（公告）日： | 1988-08-24 |
| 發明（設計）人： | 凱文·約翰·阿什;杰克·哈維·德倫博格;雷蒙德·朗尼·帕森斯 | 申請（專利權）人： | 國際商用機器公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人： | 陳景峻 |
| 地址： | 美國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 存儲器 有效 地址 測試 | ||
【權利要求書】：
1、一種大存儲矩陣地址線故障測試方法，其實現步驟有下列特征：
寫第一個位圖形到第一個存儲器地址，這個地址包含被測位為1；
寫第二個位圖形到第二個存儲器地址，這個地址包含被測位為0；
從上述兩個地址讀數據；
檢查數據永久性錯誤的位個數，與預先確定的個數比較；
對上述地址每一位重復上述操作，直到所有的地址線都測試完；
寫上述第一個位圖形到上述第二個存儲器地址，這個地址包括被測位為O；
寫上述第二個位圖形到上述第一個存儲器地址。這個地址包括被測位為1；
從上述兩個地址讀數據；
檢查數據永久性錯誤的位個數，與預先確定的個數比較；
對上述地址每一位重復上述操作，直到所有的地址線都測試完。
2、根據權利要求1所述的大存儲陣列地址線測試方法，其中上述第一個位圖形是全0圖形，上述第二個位圖形是全1圖形。
3、根據權利要求1所述的大存儲陣列地址線測試方法，其中對多插卡存儲陣列而言，由永久性錯誤組成的預先確定的位錯誤的個數為6。
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