[其他]大存儲器有效地址測試法

無效

• 申請號: 88100490
• 申請日: 1988-02-01
• 公開（公告）號: CN88100490A
• 公開（公告）日: 1988-08-24
• 發明（設計）人: 凱文·約翰·阿什;杰克·哈維·德倫博格;雷蒙德·朗尼·帕森斯
• 申請（專利權）人: 國際商用機器公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 陳景峻

本發明涉及信息處理系統，特別是在信息處理系統的存儲系統中，測試地址線故障的方法。

美國專利4，369，511敘述了一種半導體存儲器測試系統。這種系統用圖形產生器所產生的地址讀被測存儲器，並且將讀出的數據與預期的數據進行比較。由分段地址讀分組屏蔽存貯器，並且用分組屏蔽存貯器中讀出的分組屏蔽數據禁止比較器的比較操作。

這個專利所采用的存儲器測試方法與本專利采用的方法是很不相同的。這個專利要求二個數據的比較操作，其中一個數據從生成數據存貯器來，另一個從測試存貯器22來，比較操作由比較器19進行。

本專利使用的方法是把數據存儲在僅有一個地址位不同的存儲器位置，數據從這兩個位置讀出並進行比較。因此，不象上述專利那樣，需要第二個存儲器來產生預期的存儲圖形。

美國專利4，404，519提供了一種測試存儲在大規模集成電路存儲矩陣中的數據的方法和裝置。但是，這個專利並沒有描述或者建議與本發明相一致的測試存儲器地址線的方法。

美國專利4，429，389提出了一種測試圖形地址產生器。測試圖形地址產生器產生一種特殊的地址圖形，並將它送出，然后通過一系列的增量-送出過程，使被測試的集成電路存儲器的每行和列驅動器的所有組合都被檢查到。

這個專利沒有注意到與本發明相一致的測試地址線的方法。在本發明中，每一個地址位都分別通過兩趟測試，發散數據被存入被測地址中，這個數據還將存入被測地址有故障時它應存入的地址單元中。

美國專利4，559，626提出了一種測試存儲器的測試設備。這個設備包括一個存放供比較用的數據圖形的內部存儲器。從測試設備的內部存儲器和被測存儲器讀出圖形數據，並進行比較。

這個專利沒有注意到與本發明相一致的測試地址線的方法。在本發明中，每一根地址位都分別通過兩趟測試，發散數據被存入被測地址中，這個數據還將存入如果發現被測地址有故障時它應存入的地址單元中。

本發明的目標是為信息處理系統提供一種簡單而有效的測試存儲系統地址線的方法，當存儲系統任何一個地址位有故障時都能輸出唯一的故障信息。

本發明的目標是以如下方法測試上述存儲系統的地址線：寫第一個位圖到包含被測地址位為1的單元，第一個位圖可以是全1或全0這樣的簡單圖形;寫全0或全1發散位圖到包含被測地址位為0的單元;為了預先確定錯誤位數從這兩個地址讀數據並比較，從而指出那根地址線的永久性錯誤條件;對每一個地址位重復以上步驟直到所有地址線測試完成;然后，寫第一個圖形到包含被測地址位為0的第二個存儲器單元，寫第二個圖形到包含被測地址位為1的第一個存儲器單元;再一次讀兩個單元的數據並進行比較，以便確定是否有永久性錯誤;對被測存儲器每一個地址位重復上述步驟，直到存儲系統每一個插卡所有地址線測試完成。

圖1是能夠支持本發明測試方法的包括存儲器的簡化的系統框圖。

圖2是數據流的邏輯框圖，包含能夠用本發明的方法測試存儲器插卡的地址信息。

圖3是本發明最佳實施例的地址總線結構圖。

圖4是本發明所述方法的最佳實施例的流程圖。

圖1表示了一個包括處理器和存儲系統的信息處理系統。在這樣的系統中，為了保證對存儲陣列存取的正確性，需要對存儲系統的地址線進行充分的測試。圖1的簡化框圖表明，處理器10通過數據線、地址線、錯誤線和控制線14連到存儲系統12。

應該明白，處理器10和存儲系統12可以是系統用不同的方法提供的，這樣的系統可以立即從IBM公司這樣硬件供應商那里得到。例如，處理器可以是帶有內部存儲系統的IBM系統370，也可以是帶有高速緩存系統12的IBM3880-23型，也可以是帶有存儲子系統的IBM3880-23型，其存儲子系統可以控制存儲器直接存取設備（DASD）。

在以前的存儲器地址測試方法中，象增量式圖形或地址這樣獨特的數據是被存放在每一個存儲器單元中的，從最低地址到最高地址。然后，從每一個單元讀出數據，並進行比較，在這個過程中，要保證每一個單元的數據不要由于寫別的單元而受到復蓋。接著，把相同的數據（或其反碼）按從最高地址到最低地址的順序寫到存儲單元中。再一次讀每一個單元的數據並進行比較，同樣，在這個過程中，保證每一個單元的數據不要因寫別的單元而重寫。通過奇偶校驗或通過存儲矩陣讀出的數據圖形與預期的數據圖形的比較可以發現地址線的故障。這種地址線故障測試方法也能檢測出存儲矩陣的大部份數據故障。幾個上面所說的專利采用了這一類存儲器測試方法。