[其他]測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀無效
| 申請號： | 85201876 | 申請日： | 1985-05-23 |
| 公開（公告）號： | CN85201876U | 公開（公告）日： | 1986-10-29 |
| 發明（設計）人： | 安立平 | 申請（專利權）人： | 安立平 |
| 主分類號： | G01B5/02 | 分類號： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 天津市專利事務所 | 代理人： | 周永銓 |
| 地址： | 天津市河東區王*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | 測微量具微分筒上棱邊高度檢測儀，屬于測距儀表。它是由一個千分表，一個上部可固定千分表的、下部有一個倒置的V形槽的主體和一個楔形體的、可與千分表頂桿相接的觸頭構成的。由于V形槽的兩個面可與被測具的圓柱母線呈密接觸，而且由這兩母線構成的平面垂直于頂桿中心線；楔形體的觸頭下部端棱線和頂桿中心線垂直，而且楔形觸頭的一個面和主體上靠近觸頭一端的平面是處于同一平面的故能正確測量套管表面至錐面棱邊上邊緣的距離。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 微量 微分 筒上棱邊 高度 檢定 | ||
【主權項】：
1、一種檢測測微量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊一邊緣距離(測微量具微分筒上棱邊高度)的塞尺或者工具顯微鏡，本實用新型的測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀的特征是：它是由一個千分表，一個可固定千分表和定零位面的主體和一個可與千分表頂桿連接的觸頭構成的。
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