[其他]測(cè)微量具微分筒上棱邊高度檢定儀

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 85201876
• 申請(qǐng)日: 1985-05-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN85201876U
• 公開(kāi)（公告）日: 1986-10-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 安立平
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安立平
• 主分類(lèi)號(hào): G01B5/02
• 分類(lèi)號(hào): G01B5/02
• 代理公司: 天津市專利事務(wù)所
• 代理人: 周永銓

本實(shí)用新型屬于測(cè)距量具。為了降低視覺(jué)誤差，在國(guó)家計(jì)量器具檢定規(guī)程中，規(guī)定了測(cè)微量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣的距離（高度）須用工具顯微鏡檢定，或者用0.4毫米的塞尺置于固定套管縱刻線面以比較法檢定。但是，用工具顯微鏡檢定相當(dāng)麻煩，成本也較高，而且對(duì)測(cè)量范圍為500～2000毫米的測(cè)微量具不能很好地檢測(cè)；用塞尺比較法檢定不能準(zhǔn)確地測(cè)定固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣的距離，不能作為仲裁檢定方法。

本實(shí)用新型之目的是：制造一種能夠適用于各種測(cè)量范圍的測(cè)微量具的，并且能快速而正確地測(cè)量微分量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣距離（高度）的測(cè)量?jī)x。

本實(shí)用新型是這樣來(lái)實(shí)現(xiàn)上述目的的：本檢定儀是由一個(gè)千分表（1），一個(gè)用來(lái)固定千分表和定零位面的主體（2），一個(gè)可與千分表頂桿相接的觸頭（3）構(gòu)成的。

上述的主體（2），其外形像被一個(gè)水平平面（a）和一個(gè)鉛垂平面（b）裁去了下部的缺角柱體，在缺角部的上部有一個(gè)可插入千分表套管的貫通圓孔（o），其側(cè)面有一個(gè)可將千分表定位的緊固機(jī)構(gòu)（f）；主體（2）的下部柱體上開(kāi)有一個(gè)倒置的V形槽（V），構(gòu)成V形槽（v）的二個(gè)平面（c和d）與上述鉛垂平面（b）相垂直并對(duì)稱于由平面c、d的交線和圓孔（o）中心線構(gòu)成的平面；在主體（2）的下部柱體的側(cè)面（b）的上部切去一部分，構(gòu)成一可限制觸頭（3）下墜的水平臺(tái)階（e）。

觸頭（3）是楔形體，其頂部有一個(gè)可與千分表頂桿相接的螺柱（g）側(cè)部有一個(gè)與千分表頂桿中心線平行的側(cè)基準(zhǔn)平面（h），在平面h側(cè)的上部有一個(gè)可與前述臺(tái)階（e）接觸而限制觸頭下墜的小突起（i）。

裝配與使用：

將千分表（1）的套管從上插入主體（2）的圓孔（o），定位后緊固；將觸頭（3）擰固在千分的頂桿上，并保證觸頭的側(cè)面h與主體（2）上的一側(cè)面b成平行并處于同一平面中（可呈滑動(dòng)接觸）。必須強(qiáng)調(diào)，各所述平面a、b、c、d必須按要求加工；平面b與平面h必須平行并可呈滑動(dòng)接觸；觸頭（3）下端的觸物棱線（l）必須與圓孔（o）的中心線（即千分表頂桿中心線）相垂直。

測(cè)量時(shí)，將主體（2）通過(guò)V形槽跨在測(cè)微量具的固定套管上，使V形槽的兩個(gè)平面與固定套管母線呈密接觸，放下頂桿，使觸頭（3）的觸物線（l）與固定套管成切線接觸，調(diào)整千分表零點(diǎn)，拉起頂桿，使主體（2）的平面b與微分筒的環(huán)形邊緣緊密接觸，放下頂桿，使觸頭（3）的觸物線（l）與微分筒錐面呈切線接觸，即可由千分表讀出測(cè)微量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣的距離（高度）。

實(shí)施例：

本人曾按上述結(jié)構(gòu)制作了主體和觸頭，并按上述要求所了裝配，把所得之檢定儀對(duì)多種測(cè)量范圍的微分量具作了檢測(cè)，證明其測(cè)量筒單、快速、正確（與用工具顯微鏡所測(cè)結(jié)果相近、誤差不大于0.005毫米）。另外，本人還作了一個(gè)校對(duì)量具，定期校準(zhǔn)本檢定儀，實(shí)踐證明本檢定儀具有良好的重復(fù)性和穩(wěn)定性。

圖1是部分剖示的總裝配圖

圖2是裝配圖的側(cè)視圖（未畫(huà)千分表）

圖3是測(cè)量示意圖

圖4是校對(duì)量具