[其他]測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 85201876
• 申請日: 1985-05-23
• 公開（公告）號: CN85201876U
• 公開（公告）日: 1986-10-29
• 發(fā)明（設計）人: 安立平
• 申請（專利權）人: 安立平
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 天津市專利事務所
• 代理人: 周永銓

1、一種檢測測微量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊一邊緣距離(測微量具微分筒上棱邊高度)的塞尺或者工具顯微鏡，本實用新型的測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀的特征是：它是由一個千分表，一個可固定千分表和定零位面的主體和一個可與千分表頂桿連接的觸頭構(gòu)成的。

2、根據(jù)權利要求1所述的測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀，其特征在于：上述的主體外形呈一缺角柱體，其上部有一可插入千分表套管的圓孔（o），孔側(cè)有一個定位緊固機構(gòu)（f），其下部有一個倒置的V形槽，構(gòu)成V形槽的兩個平面（c、d）與鉛垂面（b）相垂直并對稱于由平面c、d的交線和圓孔中心線（o）構(gòu)成的平面，在面b的上部有一限制觸頭下墜的水平臺階（e）。

3、根據(jù)權利要求1所述的測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀，其特征在于：上述的觸頭是楔形體，其上部有一可與千分表頂桿連接的螺柱（g），側(cè)面有一側(cè)基準平面（h），平面的上部有一可與臺階（e）接觸的突起（i），裝配后楔形體的觸物線L與圓孔（o）中心線相垂直。

4、根據(jù)權利要求1、2或3所述的測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀，其特征在于：上述主體上的鉛垂平面（b）與楔形觸頭上的鉛垂面（h）處于同一平面上并可呈滑動接觸。