[其他]光學(xué)式磁頭的軌道誤差檢出方式在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 101985000007597 | 申請(qǐng)日： | 1985-10-15 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1005368B | 公開（公告）日： | 1989-10-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 大里潔 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 索尼公司 |
| 主分類號(hào)： | 分類號(hào)： | ||
| 代理公司： | 中國專利代理有限公司 | 代理人： | 葉凱東 |
| 地址： | 日本國東京都品*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 設(shè)置第１雙瓣受光元件以接受照射于光盤的凸臺(tái)部的光束及設(shè)置第２雙瓣受光元件以接受照射于光盤的槽溝部的光束，由上述第１雙瓣受光元件的輸出的差輸出與上述第２雙瓣受光元件的輸出的差輸出的差而獲得軌道誤差信號(hào)，并除去由于光盤的偏斜而引起的壞影響。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光學(xué) 磁頭 軌道 誤差 檢出 方式 | ||
【主權(quán)項(xiàng)】：
暫無信息
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