[其他]光學式磁頭的軌道誤差檢出方式在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 101985000007597 | 申請日： | 1985-10-15 |
| 公開（公告）號： | CN1005368B | 公開（公告）日： | 1989-10-04 |
| 發(fā)明（設計）人： | 大里潔 | 申請（專利權）人： | 索尼公司 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 中國專利代理有限公司 | 代理人： | 葉凱東 |
| 地址： | 日本國東京都品*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光學 磁頭 軌道 誤差 檢出 方式 | ||
【權利要求書】：
1、一種光學式磁頭的軌道誤差檢出方式，其特征為：
將一對光束透過物鏡，以大約其軌道間隔的1/2的奇數(shù)倍的間隔照射于光學式記錄媒體上，將自所說記錄媒體射出的一對光束分別射入一對雙瓣光檢出元件，從發(fā)自該一對雙瓣光檢出元件的各兩個檢出輸出的各個差輸出的差而獲得軌道誤差信號。
2、權利要求1所述的光學式磁頭的軌道誤差檢出方式，其特征為，所說的一對光束是由單一的半導體激光元件射出的光束透過衍射光柵而形成的。
3、權利要求1所述的光學式磁頭的軌道誤差檢出方式，其特征為，所說的一對雙瓣光檢出元件是設置在同一平面上。
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