[其他]光學式磁頭的軌道誤差檢出方式

在審

• 申請號: 101985000007597
• 申請日: 1985-10-15
• 公開（公告）號: CN1005368B
• 公開（公告）日: 1989-10-04
• 發明（設計）人: 大里潔
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 葉凱東

設置第１雙瓣受光元件以接受照射于光盤的凸臺部的光束及設置第２雙瓣受光元件以接受照射于光盤的槽溝部的光束，由上述第１雙瓣受光元件的輸出的差輸出與上述第２雙瓣受光元件的輸出的差輸出的差而獲得軌道誤差信號，并除去由于光盤的偏斜而引起的壞影響。

本發明是關于光學式磁頭的所謂推挽方式的軌道誤差檢出方式。

以下將參看圖11，就原來的光學式軌道誤差檢出方式加以說明。圖中的1是作為激光光源的半導體激光元件（激光二極管），從這里發出的發散激光光線通過視準透鏡2而成為平行光線，藉光束分裂器3而被偏向90度后，入射于物鏡4。通過這個物鏡4而被集束的光束照射到作為光學式記錄媒體的光盤5上，并在那里結成焦點。從光盤5射出的光束，即反射光束再入射于物鏡4而成為平行光束，通過光束分裂器3而入射于雙瓣光檢出器6。

這個雙瓣光檢出器6如圖12所示，由2個光檢出部6A、6B所構成。發自物鏡4的平行光束所形成圓形光點sup如剛好各有一串分別處在2個光檢出部6A、6B上時，這表示發自物鏡4的光束剛好掃描在光盤5的軌道的中央。因此，將這2個光檢測部6A、6B的檢測輸出供給差動增幅器7，取其差額，在輸出端子8處就得到軌道誤差信號。

可是，在有關原來的光學式磁頭的軌道誤差檢測方式中，如圖11的虛線所示，當物鏡4對于光盤5作平行移動時，由于雙瓣光檢出器6是固定的，在其上面的光點sup的位置，如圖12的虛線所示，發生位移，從輸出端子8出來的軌道誤差信號就發生直流變動。即如圖4A所示。當物鏡4的位置變動時，軌道誤差信號就像圖4的B所示。產生了直流變動。

還有，如圖13所示，在光盤5上產生徑向傾斜時，同樣地由于雙瓣光檢出器6是固定的，所以其上面的光點sup的位置，如圖14的虛線所示發生位移，發自輸出端子8的軌道誤差信號就發生直流變動，因此，在這樣的情形下，其軌道誤差信號，也如圖4B所示，發生直流變動。

鑒于上述的問題點，本發明旨在提供能除去，由于物鏡的橫向移動及光學式記錄媒體的徑方向的傾斜而引起的誤差信號的直流變動的光學式磁頭的軌道誤差檢出方式。

根據本發明的光學式磁頭的軌道誤差檢出方式，將一對光束通過物鏡4以其軌道間隔的1/2的奇數倍的間隔，照射于光學式記錄媒體5上，由光學式記錄媒體5射出一對光束，分別照射于一對雙瓣光檢出元件6₁、6₂、從這一對雙瓣光檢出元件6₁、6₂分別獲得2個檢出輸出的差輸出，再從差輸出的差獲得軌道誤差信號。這就是本發明的特征。

根據本發明，在由一對雙瓣光檢出元件6₁、6₂的差輸出的差所獲得的軌道誤差信號中，幾乎不含直流變動。

附圖的簡略說明

圖1是表示本發明方式的一實施例的機械構成的配置圖。

圖2是表示其電路構成的電路圖。

圖3表示光盤及其上面的光點的配裝關系的配置圖。

圖4是說明本發明的實施例的動作的波形圖。

圖5是表示本發明方式的其他實施例的機械構成的配置圖。

圖6是雙瓣光檢出器及其上面的光點的配置圖。

圖7是表示光盤及其上面的光點的配置關系的配置圖。

圖8是表示本發明的其他實施例的電路構成的電路圖。

圖9是表示光盤及其上面的光點的配置關系的配置圖。

圖10是表示其特性的曲線圖。

圖11及圖12分別是表示原來的光學式磁頭軌道誤差檢出方式的機械構成的配置圖及表示其電路構成的電路圖。

圖13及圖14分別對應于說明其動作的圖11及圖12的配置圖及電路圖