[其他]接觸取樣發(fā)射光譜定量分析各種金屬表面成分的方法和裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 101985000004352 | 申請日： | 1985-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN85104352B | 公開（公告）日： | 1988-04-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 許國敷;李樹陽;王桂榮 | 申請（專利權(quán)）人： | 航空工業(yè)部黎明發(fā)動機(jī)制造公司 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 沈陽市專利事務(wù)所 | 代理人： | 張致仁;陸文平 |
| 地址： | 遼寧省沈*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 一種接觸取樣、發(fā)射光譜定量分析各種金屬材料和金屬制品表面成分的方法和裝置。特點(diǎn)是用電極棒在惰性氣體或液體介質(zhì)保護(hù)下接觸取樣；取樣后的電極棒，在氬氣保護(hù)下用高電壓激發(fā)光譜在中型攝譜儀上用１８種不同組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品建立上述元素的工作曲線。試驗(yàn)證明，該方法及裝置可以提高譜線強(qiáng)度１０倍以上，并明顯改善精確度（采用照相法光譜分析的相對標(biāo)準(zhǔn)誤差一般在±３～６％）。該方法設(shè)備簡易，成本低廉，操作方便，適用于金屬制品表面非破壞性成分測定。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 接觸 取樣 發(fā)射光譜 定量分析 各種 金屬表面 成分 方法 裝置 | ||
【主權(quán)項(xiàng)】：
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