[其他]接觸取樣發射光譜定量分析各種金屬表面成分的方法和裝置

在審

• 申請號: 101985000004352
• 申請日: 1985-06-01
• 公開（公告）號: CN85104352B
• 公開（公告）日: 1988-04-13
• 發明（設計）人: 許國敷;李樹陽;王桂榮
• 申請（專利權）人: 航空工業部黎明發動機制造公司
• 代理公司: 沈陽市專利事務所
• 代理人: 張致仁;陸文平

1、一種接觸取樣、發射光譜定量分析各種金屬表面成份的方法，其特征是電極棒在液體或惰性氣體保護下在25～30伏電壓下微電火花取樣，在氬氣保護下高壓火花激發。

2、根據權利要求1所述方法，其特征是高壓火花激發時通過上、下接嘴〔16〕用氬氣保護。

3、根據權利要求1或2所述方法，其特征是高壓火花激發時上、下電極棒〔6〕通過互相垂直的兩個窗孔〔21〕投影定位。

4、一種根據權利要求1所述方法的裝置，其特征是管狀遷移器由座體〔1〕、電極芯〔2〕、壓力彈簧〔3〕、鎖緊螺母〔4〕組成，并開有用于流入液體或惰性氣體的小孔〔5〕，激發室由氣室〔11〕、上下氣室接頭〔12〕、鏡片〔13〕、燈座〔14〕、壓帽〔15〕、上下氣室接嘴〔16〕組成，并氣室〔11〕上開有均勻分布的小孔〔17〕。

5、根據權利要求4所述裝置，其特征是管狀遷移器的座體〔1〕和電極芯〔2〕之間裝有壓力彈簧〔3〕。

6、根據權利要求4或5所述裝置，其特征是管狀遷移器的電極棒〔6〕可以由銅絲〔7〕及其相應的附件取代。

7、根據權利要求4所述裝置，其特征是激發室的氣室〔11〕與上下氣室接頭〔12〕之間，鏡片〔13〕與壓帽〔15〕之間，上下氣室接頭〔12〕與接嘴〔16〕之間，上下電極棒〔6〕與上下氣室接頭〔12〕的中心孔壁間均用膠墊密封。

8、根據權利要求4或7所述裝置，其特征是激發室的氣室〔11〕開有兩個互相垂直的窗孔〔21〕。

9、根據權利要求8所述裝置，其特征是激發室具有調節支座〔20〕。