[發明專利]光學存儲設備

無效

• 申請號: 97102402.2
• 申請日: 1997-01-31
• 公開（公告）號: CN1099670C
• 公開（公告）日: 2003-01-22
• 發明（設計）人: 正木功;柳茂知
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G11B7/12
• 分類號: G11B7/12
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 蔣世迅

1.一種光學存儲設備，包括：

一個激光二極管，用于發射激光束；

一個光發射電流源電路，用于根據多個功率向所述激光二極管提供驅動電流；

一個自動功率控制單元，用于將所述激光二極管的光發射功率控制在指定的目標功率；

一個監測器光敏裝置，用于接收所述激光二極管的激光束的一部分，并輸出一個光敏電流；

一個減除電流源電路，用于從所述光敏電流減去與一個特定的光發射功率與所述目標功率之差相對應的一個特定減除電流，并轉換成一個監測器電流并將所述監測器電流反饋到所述自動功率控制單元；

一個測量單元，用于進行監測以讀取從所述減除電流源電路導出的監測器電流作為功率測量值；以及

一個光發射調節處理單元，用于以在兩個點處的預定測試功率依次指令所述光發射電流源電路進行光發射，對所述激光二極管進行光發射驅動，把與在兩個點處的所述測試功率相對應的特定減除電流指令給所述減除電流源電路，從用于監測的所述測量單元測量各個測試功率，并根據所述測量的結果并借助一個線性近似來獲得在任意功率下所述光發射電流源電路和所述減除電流源電路的指令值之間的關系。

2.根據權利要求1的設備，其中所述光發射調節處理單元包括：

一個光發射粗調處理單元，用于在其中上道控制被取消的狀態下借助在兩點處的預定測試功率依次指令所述光發射電流源電路進行光發射，對所述激光二極管進行光發射，把與在兩點處的所述測試功率相對應的指定減除電流指令給所述減除電流源電路，從用于監測的所述測量單元測量各個測試功率，根據所述測量的結果并借助線性近似，獲得

用于監測的所述測量單元的一個功率測量值與一個任意光發射功率的關系，

用于進行光發射的所述指令值與該任意光發射功率的關系，以及

用于減除的所述指令值與該任意光發射功率的關系，

并將所述關系寄存到一個功率表中；以及

一個光發射細調處理單元，用于依次指令所述光發射電流源電路在其中上道控制有效的狀態下借助在兩點處的預定測試功率進行光發射，對所述激光二極管進行光發射驅動，把與所述在兩點處的測試功率對應的指定減除電流指令給所述減除電流源電路，調節到所述光發射電流源電路的指令值從而使所述測量單元的一個測量功率等于所述目標功率，根據所述調節的結果并借助線性近似而獲得所述光發射電流源電路的指令值與任意光發射功率的關系，并校正所述功率表。