[其他]涂層厚度測定儀

無效

• 申請號: 87214493
• 申請日: 1987-10-19
• 公開（公告）號: CN87214493U
• 公開（公告）日: 1988-09-28
• 發明（設計）人: 高申明;王文清;肖波;宋象軍
• 申請（專利權）人: 華中工學院
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 華中工學院專利事務所
• 代理人: 楊丕震

本發明是涉及一種鑄造用型、芯及建筑涂料層厚度的測定儀器。

現有的鑄造用涂層厚度測定儀器常采用剖開測點顯微鏡放大測量的方法；或采用磨去局部涂料層，再用量度尺測量的磨擦法。前法只限于實驗室使用，后種對涂料層與基體相交界面位置判斷不準，難于保證測量精度。

本發明的目的就是要提供一種新型的適用的涂層厚度測試儀器。該儀器既不破壞型、芯，又能準確地測量出涂料層厚度。

發明的具體結構由以下實施例及其附圖給出：

本發明是這樣實現的：通過壓簧圈〔4〕調正上彈簧〔3〕、下彈簧〔5〕預緊，使與測桿〔6〕緊連的探頭探針〔8〕端部獲得一定的預進針力；該預進針力能使探頭探針〔8〕刺透涂層抵達界面。探頭探針〔8〕在界面受阻，由與探頭測桿〔6〕緊連的顯示儀表〔1〕直接顯示測點的涂料層厚度；當更換探針〔8〕或測桿〔6〕，或顯示儀表〔1〕時，通過調零接頭〔2〕，能隨時使涂層厚度測定儀對零。

儀器能測定性能相近的非金屬材料基體與非金屬材料涂層的厚度及鋼鐵基體上油漆、內墻涂料層厚度。

本發明能精確快速地測定測點涂料層厚度，通過基準面接頭〔7〕對被測測點涂料層表面性狀具有充分的適應性，即既能測定平面，亦能測定凸凹面，V形槽等處的涂料層厚度。