[其他]涂層厚度測定儀無效
| 申請號： | 87214493 | 申請日： | 1987-10-19 |
| 公開（公告）號： | CN87214493U | 公開（公告）日： | 1988-09-28 |
| 發明（設計）人： | 高申明;王文清;肖波;宋象軍 | 申請（專利權）人： | 華中工學院 |
| 主分類號： | G01B5/06 | 分類號： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 華中工學院專利事務所 | 代理人： | 楊丕震 |
| 地址： | 湖北省武*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 涂層 厚度 測定 | ||
【權利要求書】：
1、一種鑄造用涂層厚度測定儀，其特征是通過探頭下部連接的探針刺透涂層，探頭由多根具有一定剛度的細針所組成，連接探頭的測桿端部的探針能通過調正彈簧的予緊力得到一定的預進針力，從而抵達基體表面，并通過顯示儀表反映涂層厚度。
2、根據權利要求1所述，其特征在于更換探針易損件后，可通過調零接頭，使顯示儀表對零。
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