[其他]高頻感應耦合等離子分析方法無效
| 申請號: | 87101801 | 申請日: | 1987-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN87101801A | 公開(公告)日: | 1987-10-07 |
| 發明(設計)人: | 福井勛;岡田幸治 | 申請(專利權)人: | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號: | H05H1/16 | 分類號: | H05H1/16;G01N27/62 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 高頻 感應 耦合 等離子 分析 方法 | ||
【權利要求書】:
1、適用于在試料霧化室和等離子噴槍之間設置有試料通路轉換閥的ICP分析裝置的ICP分析方法,其特征在于:
僅當進行ICP分析時,將上述轉換閥翻轉至等離子噴槍一側,試料被導入等離子噴槍,與此同時控制供給感應線圈的高頻電動率和供給等離子噴槍的氣體量使得進入等離子噴槍的試料能夠處于等離子發光狀態;
在不進行ICP分析時,將轉換閥翻轉至試料排出一側,與此同時控制供給感應線圈的高頻電功率和供給等離子噴槍的氣體量使噴槍中的等離子區維持在點火狀態。
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社島津制作所,未經株式會社島津制作所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/87101801/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:安裝多晶體金剛石切削坯塊的缺口托柱
- 下一篇:壓縮絕緣氣體電路斷路器





