[其他]測試微區腐蝕電位電流密度分布的掃描裝置

無效

• 申請號: 86103043
• 申請日: 1986-04-28
• 公開（公告）號: CN86103043A
• 公開（公告）日: 1986-11-12
• 發明（設計）人: 田昭武;林昌健;卓向東
• 申請（專利權）人: 廈門大學
• 主分類號: G01N27/26
• 分類號: G01N27/26;G01R19/08
• 代理公司: 廈門大學專利事務所
• 代理人: 馬應森

1、測試微區腐蝕電位電流密度分布的掃描裝置，它由微參比電極、樣品架、電機、連接裝置、底板、立柱和控制驅動電路等部分組成，本發明的特征是：微參比電極(1)的微玻璃毛細管(2)的尖端外徑小于10微米，內阻小于500KΩ，樣品架(19)固定在X軸滑塊(12)上，通過X軸絲桿(13)與X軸步進電機(17)連接，X軸滑塊位于X軸滑軌(11)上，可自由運動，微參比電極與固定在Y軸滑塊(24)上的電極上下讀數微調器(25)連接，Y軸滑塊卡入橫梁(21)上的滑條(23)，并與Y軸絲桿(27)和Y軸步進電機(29)連接，自動掃描過程由微計算機中的CPU通過可編程并行I/O接口PPI(33)控制，PPI輸出控制信號控制CTC(34)向X軸步進電機和Y軸步進電機提供脈沖信號的分配和環形分配器(36)的工作方式。

2、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：測量電流密度分布需兩根微參比電極固定在一起，并同時掃描，其中一根的微玻璃毛細管（10）呈彎曲，兩根微玻璃毛細管的尖端位于垂直于樣品表面的同一直線上，兩尖端的距離一般為300～600微米，最好約為400微米。

3、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：X軸滑軌（11）固定在底板（31）上，X軸步進電機（17）通過軸承（14）和聯軸部件（15）與X軸絲桿（13）連接，與X軸絲桿相連的X軸滑塊（12）在X軸滑軌上可來回平動。

4、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：樣品架（19）和電解池（20）連接，最好通過細螺紋連接，電解池可以沿垂直軸轉動，樣品架和電解池一般可用耐酸、耐腐蝕材料做成，通常用有機玻璃。

5、根據權利要求1和3所述的掃描裝置，其特征是：X軸絲桿最好利用螺旋測微器改裝而成。

6、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：橫梁（21）固定在立柱（22）上，橫梁上裝有滑條（23），在Y軸滑塊（24）上固定有微電極上下讀數微調器（25），Y軸絲桿（27）通過Y軸絲桿螺母（28）與Y軸步進電機（29）相連，讀數微調器可用千分表改裝而成。

7、根據權利要求1、3和6所述的掃描裝置，其特征是：X軸絲桿與Y軸絲桿互相垂直。

8、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：微參比電極離被測樣品的距離小于50微米，最好約為10微米。

9、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：PPI的狀態信息輸入端口由外設的位置調節鍵的狀態提供，一般可設四個位置調節鍵。

10、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：PPI的一輸出端口輸出控制信號，控制CTC（34）的一個通道形成定時脈沖，作為驅動步進電機的脈沖源，CTC的其余通道工作在計數狀態。

11、根據權利要求1所述的掃描裝置，其特征是：PPI的另一端口輸出控制信號，和CTC輸出的脈沖信號通過步進電機環形分配器（36）控制X軸和Y軸步進電機按程序給定的參數運轉，CTC輸出的定時脈沖可經脈沖展寬電路展寬，展寬電路可由二極管、電容和與非門組成。

12、根據權利要求1、9、10和11所述的掃描裝置，其特征是：微計算機的CPU可用Z-80，PPI可用Intel8255，CTC可用Z-80CTC，步進電機分配器可用CH250。