[其他]光電導(dǎo)膜無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 85104072 | 申請日: | 1985-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN85104072B | 公開(公告)日: | 1988-02-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 谷岡健吉;設(shè)樂圭一;栗山孝夫;高崎幸男;平井忠明;野中育光;井上榮神 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社日立制作所;日本放送協(xié)會 |
| 主分類號: | H01J29/45 | 分類號: | H01J29/45;H01J31/38;H01L31/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利代理部 | 代理人: | 吳大建,全菁 |
| 地址: | 日本東京都千*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電導(dǎo) | ||
本發(fā)明的主題是用于光電導(dǎo)攝象管靶的一種光電導(dǎo)膜的結(jié)構(gòu),尤其是針對這樣一種光電導(dǎo)膜,它在攝象管剛剛接通后,在整流接觸型的光電導(dǎo)膜之各種光響應(yīng)性質(zhì)中,都能減少靈敏度的偏移。
如所周知,無定形Se顯示有光電導(dǎo)性,而將此種無定性Se同一種n型傳導(dǎo)的信號電極相組合,就能制造出整流接觸型光電導(dǎo)膜。此時,由于Se不具備對長波長光的敏感性質(zhì),就采取了在Se膜的一部分中加入Te的方法,以提高此種靈敏性〔美國專利:3890525與4040985;日本特許公告:1083551(發(fā)布號:昭56-6628)〕。
另一方面,為了減少強光的余象,又采用了一種在Se膜的一部分中摻加GaF3、MoO3、In2O3等的方法(美國專利:4463279)。圖1示意了按照某種傳統(tǒng)工藝制成的上述靶子的一種主要結(jié)構(gòu),參考數(shù)字1指一種透明襯底;2為一種透明電極;3為P型光電導(dǎo)體的光敏部分;4為用作減少靶子存儲電容的一種P型光電導(dǎo)膜層;而5為支持電子束到達靶子的輔助層。光敏部分3由Se、As、Te與GaF3組成;P型光電導(dǎo)膜4由Se和As組成;而電子束到達靶子的的輔助層5則由Sb2S3組成。圖2例示了圖1中光敏部分3膜厚方向上的組分分配。在這一例子中,用于提高靈敏度的Te決不存在于同透明電極2界面對應(yīng)的位置(圖2中以a標(biāo)明的位置)上,這里的膜厚為零。Te的濃度從膜厚500埃的位置起快速增加,而且在1000埃膜厚至1500埃膜厚的位置(部分b)的區(qū)域內(nèi)加入Te。在部分a和b中加入材料AS以提高Se的熱穩(wěn)定性。將材料As和GaF3摻入到以c指明的部分中,據(jù)認為As在其中可形成俘獲Se中電子的深陷阱能級,而GaF3則用于通過俘獲Se中電子而形成負的空間電荷。部份c能使強光的余象減弱,同時又可提高敏感效應(yīng)。As的濃度在膜厚超過1000埃之后按均勻梯度減少。GaF3的濃度分布在大于1000埃膜厚時均勻分布。具有上述結(jié)構(gòu)的光電導(dǎo)靶是能夠達到提高對長波長光的靈敏度并減少強光余象之目的,同時也能使攝象管通常所要求的滯后、分辨率之類的性質(zhì)優(yōu)良。但是,這樣的光電導(dǎo)靶卻存在著這樣的缺點,當(dāng)形成負空間電荷處的區(qū)域有厚的光電導(dǎo)膜時,則在攝象管剛剛接通后,靈敏度會有顯著的時間偏移。
本發(fā)明的目的之一即在于提供這樣的一種光電導(dǎo)靶,它能在攝象管剛剛接通后減少靈敏度的偏移,而又不損失對光的敏感效應(yīng)。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明中的最基本之點即在于,把通過形成俘獲Se中電子的陷阱能級以增強光敏效應(yīng)的膜層(此后稱這一層為輔助性光敏層),在P型光電導(dǎo)體中的光敏部分加工得很薄。
圖2中部分a與b(光敏層)中由入射光產(chǎn)生的載流子,受到部分c,即輔助性光敏層的作用而作為一種信號電流取出。
本發(fā)明中,這一輔助性光敏層的膜厚經(jīng)確定為不小于20埃且不大于500埃,最好不小于50埃且不大于500埃。
以上述結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ),同采用輔助性光敏層厚度符合傳統(tǒng)工藝所建議的光電導(dǎo)膜的那種攝象管相比,按照本發(fā)明制得的攝象管在其剛接通后的靈敏度偏移能夠顯著減少,且不損失其光敏效應(yīng)。
圖3是用于解釋本發(fā)明的組份分布例子,本發(fā)明的組成比以后按重量百分數(shù)敘述。在圖3所示的例子中,Te絕不存在于與透明電極界面對應(yīng)的位置上,該處的膜厚為零(部分A)。這一Te的濃度從膜厚500埃的部分快速增加,同時將Te按30%的濃度添加到膜厚超過1000埃的區(qū)域(部分B)。由于As是沿膜厚的方向上均勻分布,從而在部分A的濃度為6%,而在部分B的濃度為3%。Te和As的這種結(jié)構(gòu)從原理上說與圖2中的情形相同。輔助光敏層部分C不同于圖2中的類似部分。部分C的膜厚為50埃,而這部分中As的濃度為20%,同時As按膜厚的方向均勻分布。除此,在部分C的膜厚方向上均勻分布有1500ppm的GaF3。
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