[其他]大同視場下的物像比對儀制造法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 85100846
• 申請日: 1985-04-01
• 公開（公告）號: CN85100846A
• 公開（公告）日: 1986-07-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙長安;張玉潔;蘇爾古冷
• 申請（專利權(quán)）人: 內(nèi)蒙古自治區(qū)刑事科學研究所
• 主分類號: G01B9/08
• 分類號: G01B9/08
• 代理公司: 內(nèi)蒙專利服務(wù)中心
• 代理人: 李樹基

本發(fā)明是一種簡單光學儀器的制造法，旨在實現(xiàn)大視場下的同一視場中進行實物與實物或?qū)嵨锱c物相、實物與物跡等的比對檢驗，達到既能定性又能定量地鑒別同異、真?zhèn)沃康模液啽恪蚀_、迅速。

本發(fā)明所謂的大、同視場是指大于兩人眼中心距離以上的同一視場范圍。

本發(fā)明是針對目前的刑事技術(shù)檢驗工作，在足跡的檢驗、指紋的檢驗、文物珍品、票證印鑒等的檢驗上，所用手段、設(shè)備存在不齊、不便、不準等缺點，利用平面鏡和析光鏡的幾何光學特性，在作簡單組合匹配后即可用作比對研制而成。

目前國內(nèi)制造或引進的各種用作比對的設(shè)備及儀器，沒有利用平面鏡和析光鏡組，且多是結(jié)構(gòu)復(fù)雜、成本昂貴、視場狹小和范圍有限，檢驗工作具有一定的局限性，并檢驗人員因受檢驗條件的限制，常感體力不濟，效率不高，強度較大，周期沉長，檢驗質(zhì)量和準確性也由于主觀和客觀上的許多問題往往難以保證，特別是對于某些殘缺、破損、零碎的物、相或痕跡，要想做到和原物件的準確比對，更感困難很多。本發(fā)明基于上述考慮，利用了取鏡容易用量最少的一個普通平面鏡和析光鏡，以一定距離平行組合，構(gòu)成一個有反射有透射的聯(lián)合物像比較系統(tǒng)，配以標尺、刻度和照明、調(diào)節(jié)等裝置，可以實現(xiàn)在大視場下的同一視場中，對要比對的兩個物或物與相、物與痕跡，作比較、接合、重疊和整體、局部的比對測量，既能定性又能定量，提高了比對質(zhì)量和準確性，同時減輕了工作人員的勞動強度，提高了工作效率。

本發(fā)明實現(xiàn)物像在同一視場下的比較。接合、重疊等比對的光路系統(tǒng)原理如圖所示。圖中P₁為平面鏡，P₂為析光鏡，兩鏡平行放置，并與假想基準鉛垂面MM′單側(cè)接交，且夾角均為45°。A、B代表兩個比對實物，分別與所對鏡平面成45°角作反射和透射。平面鏡P₁將實物A的反射光線均勻反射到析光鏡P₁上后，析光鏡P₂又對實物A的虛像A′作二次反射，其光路為aa₁a₂a₃。A″為實物A的二次虛像，其大小、方位和實物A完成相同。若將實物B放到虛像A″的位置附近，由于實物B的反射光線在透過析光鏡后是沿直線b₂b₃且和實物A的二次反射光線a₂a₃平行并進，因而調(diào)節(jié)實物B和虛像A″的相對位置，可以實現(xiàn)對透過析光鏡P₂的實物B的實像與經(jīng)析光鏡P₂反射的實物A的二次虛像A″進行同位置并立比較、特征重疊、線條接合等比對檢驗。

本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特點是平面鏡、析光鏡制造容易、用量最少、組合簡單、視場擴大，可做到在大視場下的同大比對觀察。

本發(fā)明所述平面鏡為真空鍍金屬膜（銀、鉻等）、膜層氧化的外反射平面玻璃鏡，也可用普通水銀平面鏡或其它金屬拋光型平面鏡。為提高反射精度，要求鍍膜均勻，反射面光滑平整，反射物相不變形。其鏡面規(guī)格視需要而定，如用于足跡比對，則線徑應(yīng)不小于最大人鞋底的尺度，形狀可為方形、園形或長方形。

本發(fā)明所述析光鏡，應(yīng)具有半反射半透射光線的特性，反射透射光之比最好為1∶1。反射由平板玻璃單側(cè)鍍金屬薄膜來實現(xiàn)，透射由薄膜層稀、薄，不使鏡對方的物、相反射光全遮擋來實現(xiàn)。除上平板玻璃型析光鏡外，也可采用能達同樣析光效果的其它類析光鏡，規(guī)格大小應(yīng)與反射鏡匹配。為了提高析光精度，要求析光鏡兩面平整，鏡質(zhì)均勻，越薄越好。

本發(fā)明所述的光路系統(tǒng)，其兩鏡面平行組合誤差，按正常人的視覺鑒別率為60″（在明視距離為250mm，光線充足條件下可區(qū)別0.08mm距離的兩點）為標準進行推算，在被鑒別物的最大長度（如腳印）可達270mm時，兩鏡的不平行度應(yīng)不大于45′。