[其他]非晶硅攝像靶及制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 85100514 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85100514A | 公開(公告)日: | 1986-08-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳宗炎;沈月華 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 |
| 主分類號: | H01J31/26 | 分類號: | H01J31/26;H01J9/20;H01L21/205 |
| 代理公司: | 中國科學(xué)院上海專利事務(wù)所 | 代理人: | 潘振甦 |
| 地址: | 上海市長寧*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 非晶硅 攝像 制造 方法 | ||
本發(fā)明屬于電真空器件領(lǐng)域。
非晶硅攝像靶是新一代攝像管,可用于工業(yè)電視,監(jiān)控,醫(yī)用,及微光和探傷等場合進(jìn)而還可以用于廣播電視。日本東工大Shimizu報(bào)導(dǎo)的非晶硅攝像靶是將光電導(dǎo)層、空穴阻擋層和電子阻擋層做在帶有導(dǎo)電層SnO2或ITO的玻片上制成的。光電導(dǎo)層是用硼烷(B2O6)微摻雜補(bǔ)償因有弱n型、電阻率為10Ω·cm左右的非晶硅制成的;非晶SixN1-x或PH3摻雜的n型非晶硅為空穴阻擋層;Sb2S3或As2Se3為電子阻擋層。這種三層組成的攝像靶靈敏度僅達(dá)600μA/lm(低于單晶硅靶攝像管),暗電流3~5mA以下,偏置光下隋性為6%以下,另外Sb2S3或As2Se3等材料的應(yīng)用,使制成的攝像管不能在高環(huán)境溫度下工作(如高爐前、野外日曬下),迫使攝像機(jī)要按裝致冷設(shè)備從而導(dǎo)致結(jié)構(gòu)復(fù)雜,攜帶使用不便。
本發(fā)明的目的在于提供一種非晶硅攝像靶,該攝像靶靈敏度大于規(guī)有600μA/m,可與單晶硅攝像管靈敏度比美,可以在微光下應(yīng)用并且由于不使用Sb2S3或As2Se3等材料作的電子阻擋層,因而對工業(yè)電視及攝像管可以在高環(huán)境溫度下工作。
本發(fā)明所述的工業(yè)電視級非晶硅攝像靶的優(yōu)點(diǎn)只由空穴阻擋層和高電導(dǎo)層組成而省去電子阻擋層,從而簡化了工藝,降低成本同時(shí)也提高成品率。雖然不用電子阻擋層,暗電流仍小于3nA,分辨率可達(dá)550~650線,惰性在暗場中可小于11%,滿足工業(yè)電視攝像靶的要求。更重要的是不用Sb2S3、As2Se3易再結(jié)晶等材料,使攝像靶可以在高環(huán)境溫度下工作而不致?lián)p傷,攝像機(jī)亦不必致冷使用和攜帶方便。
本發(fā)明的空穴阻擋層是用氫氣攜帶赤磷蒸氣,與SiH4混合后進(jìn)入反應(yīng)室,再在輝光放電下分解制備而成的n型非晶硅;光電導(dǎo)層是用Ga、In或BBr3的蒸氣,由氫氣攜帶與SiH4混合后進(jìn)入反應(yīng)室,再在輝光放電下分解制備的高阻非晶硅,所以本發(fā)明另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是不采用PH3、B2H6等毒性極大的氣體摻雜劑而改用氣載摻雜劑-P、Ga、In、單質(zhì)或BBr3,毒性大大減少而且所得攝像靶靈敏度大大提高,可高達(dá)3500μA/lm以上,比一般由光電導(dǎo)層、空穴阻擋層電子阻擋層做成的非晶硅攝像靶靈敏度高6~7倍,與單晶硅靶攝像管靈敏度比美。
本發(fā)明提供的非晶硅攝像靶結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示。(1)光電導(dǎo)層,厚1~2μ左右,(2)空穴阻擋層約250A,(3)導(dǎo)電層SnO2,(4)玻璃基片。
n型空穴阻擋層是由10SCCN流量經(jīng)凈化過H2,經(jīng)過汽化赤磷(加熱至290℃)表面,與120SCCM流量的SiH4混合,在反應(yīng)室內(nèi)由高頻場13.56MHZ分解,沉積1分30秒制成的。光電導(dǎo)層是由10SCCM流量經(jīng)凈化高純H2經(jīng)過BBr3或Ga、In表面(加熱到700~750℃),與120SCCM流量SiH4混合,再在高頻場13.56MHZ下分解淀積1小時(shí)而制成的。
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