[其他]聚焦-半聚焦兩用X光衍射計(jì)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 85100097 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85100097A | 公開(公告)日: | 1986-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪泓宏 | 申請(專利權(quán))人: | 清華大學(xué) |
| 主分類號: | G01N23/207 | 分類號: | G01N23/207 |
| 代理公司: | 清華大學(xué)專利事務(wù)所 | 代理人: | 羅文群 |
| 地址: | 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 聚焦 兩用 衍射 | ||
本發(fā)明所述的裝置屬于物理測試儀器類,用于晶體物質(zhì)的結(jié)構(gòu)分析。
目前常用的半聚焦〔布拉格-布倫塔諾(Bragg-Brentano)〕X光衍射計(jì)(或測角儀)的聚焦圓是不斷變化的。其探測器接收狹縫沿測角儀圓周運(yùn)動,且始終對準(zhǔn)測角儀的圓心。處于測角儀圓心的試樣以探測器角速度之半的角速度同向轉(zhuǎn)動。
聚焦〔西曼-博林(Seeman-Bohlin)〕X光衍射計(jì)的聚焦圓是固定的。試樣、光源焦點(diǎn)、探測器接收狹縫三者始終保持在聚焦圓上。探測器及其狹縫沿聚焦圓運(yùn)動時(shí),必須始終對準(zhǔn)位置固定的試樣的表面中心。聚焦衍射計(jì),在入射角>30°,2θ>60°時(shí),其衍射線強(qiáng)度、分辨率、測定精度等都比半聚焦衍射計(jì)的好。此外,在聚焦衍射計(jì)中,參加衍射的晶面也不限于平行于試樣表面的晶面,因而,這對測定有織構(gòu)試樣的各衍射線是有利的。
本發(fā)明提出一種X光衍射計(jì)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。這種衍射計(jì),通過現(xiàn)場裝拆少量部件,可用作聚焦衍射計(jì),或半聚焦衍射計(jì)。因此,它具有一機(jī)兩用的優(yōu)點(diǎn)。它比通常的半聚焦衍射計(jì)多一種聚焦衍射的功能。它比聚焦X光衍射計(jì)〔見R.Feder????and????B.S.Berry????J.Appl.Cryst(1970)3,372:汪泓宏,聚焦X光衍射計(jì)研制報(bào)告,清華大學(xué)工程物理系,1984.10.〕多一種半聚焦衍射的功能。這些特點(diǎn)取決于它所采用的三齒輪傳動機(jī)構(gòu)。
本發(fā)明所述的聚焦-半聚焦兩用X光衍射計(jì)的主要結(jié)構(gòu)示意圖示于圖1。一般的半聚焦衍射計(jì)在其圍轉(zhuǎn)中心部位提供同心的兩個轉(zhuǎn)軸:外軸2以ω角速旋轉(zhuǎn):內(nèi)軸1以 1/2 ω角速度旋轉(zhuǎn)。它們以一個小電機(jī)經(jīng)減速器驅(qū)動,并有換檔機(jī)構(gòu),使軸1和軸2可在不同的速度下正、反旋轉(zhuǎn),其轉(zhuǎn)速比始終保持1∶2。在這樣的兩個同心的中心軸上裝上一套三齒輪系統(tǒng),就能使衍射計(jì)具有聚焦-半聚焦兩用的性能。
圖1中件7是固定不動的機(jī)架部分。梁6與軸2固定連接,并以ω角速度轉(zhuǎn)動。齒輪3與軸1固定連接,并以 1/2 ω角速度轉(zhuǎn)動。齒輪4和5可分別繞其軸旋轉(zhuǎn):這兩軸固定于梁6上。齒輪3和4,以及4和5成嚙合關(guān)系。
當(dāng)齒輪3和5的齒數(shù)選得合適時(shí),則當(dāng)齒輪5的中心線15沿側(cè)角器圓(此時(shí)也是聚焦衍射計(jì)的聚焦圓14)旋轉(zhuǎn)時(shí),固定于齒輪5上的探測器8的窗口就始終對著固定于聚焦圓14圓周上的試樣臺10的內(nèi)圓表面(即試樣)中心,9是探測器8前的接收狹縫,狹縫中心與齒輪5的中心線15重合。此外,機(jī)架板7,在沿測角儀圓周的某些方位(如45°,90°)可安裝調(diào)焦狹縫,它的內(nèi)圓面與聚焦圓吻合,以便在使用單色器聚焦時(shí)調(diào)整焦點(diǎn)。(圖1中只畫出在45°處的一個這樣的狹縫,16)。這就是聚焦衍射計(jì)工作狀態(tài)。在聚焦衍射計(jì)中,試樣各晶面的衍射線是同時(shí)聚焦的,所以可以同時(shí)用2個或3個探測器,分別測定不同2θ范圍內(nèi)的衍射線,以節(jié)省測定時(shí)間。這只需相應(yīng)增加齒輪系、探測器及狹縫的數(shù)量,就可實(shí)現(xiàn)。
當(dāng)需改作半聚焦衍射計(jì)使用時(shí),可把零件8、9、10、16拆除。梁6的另一端可裝卸的探測器11及其接收狹縫12使用時(shí)始終正對著測角儀中心軸1的中心。從狹縫12中心到軸1中心之間的距離即為衍射計(jì)圓的半徑。軸1上頂端安裝試樣臺13。當(dāng)探測器11以ω旋轉(zhuǎn)時(shí),中心試樣臺13以 1/2 ω角速度旋轉(zhuǎn)。這就成為一臺半聚焦衍射計(jì)。
聚焦衍射計(jì)與半聚焦衍射計(jì)的直徑可以是相同的,也可以是不同的(圖1表示兩者相同的情況)。它們的絕對值可按需要確定。
用聚焦衍射計(jì)測得的晶體材料的X光衍射結(jié)果示于圖2。圖2中的峰值是從材料的某個晶面得到的衍射線;橫標(biāo)指示該峰所處的角度位置,即2θ角。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于清華大學(xué),未經(jīng)清華大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/85100097/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





