[其他]聚焦-半聚焦兩用X光衍射計無效
| 申請號： | 85100097 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100097A | 公開（公告）日： | 1986-09-03 |
| 發明（設計）人： | 汪泓宏 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G01N23/207 | 分類號： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 羅文群 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 聚焦 兩用 衍射 | ||
【權利要求書】：
1、一種用于測定晶體物質結構的聚焦[西曼-博林(Seeman-Behlin)]和半聚焦[布拉格-布倫塔諾(Bragg-Brentano)]兩用X光衍射計，其特征是在通常的半聚焦X光衍射計的兩同心的中心軸上裝備一個三齒輪的系統。
2、如權利要求1所述的裝置，其特征在于其中分別用于聚焦衍射和半聚焦衍射的探測器和接收狹縫是可拆的（或可互換的）。
3、如權利要求1所述的裝置，其特征在于其中分別用于聚焦衍射和半聚焦衍射的樣品臺是可拆的。
4、如權利要求1所述的裝置，其特征在于聚焦圓上有一個或多個可拆的調焦狹縫。
5、如權利要求1和2所述的裝置，其特征在于可以具有一個以上的三齒輪系統，和同樣數量的用于聚焦衍射的探測器和接收狹縫。
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