[實(shí)用新型]一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝和包括其的機(jī)械校準(zhǔn)模組

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202320515624.1
• 申請日: 2023-03-16
• 公開（公告）號: CN219426626U
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余家昌;徐泉;葉建斌
• 申請（專利權(quán)）人: 奧健生物科技（廣州）有限公司
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00
• 代理公司: 上海熠澗知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31442
• 代理人: 林高鋒

本實(shí)用新型一方面在于提供一種一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝，包括工裝主體、若干定位孔和若干定位凸起，若干定位孔至少設(shè)置于工裝主體的兩個(gè)面上，若干定位凸起至少設(shè)置于工裝主體的一個(gè)面上，至少部分若干定位孔和/或至少部分若干定位凸起陣列設(shè)置。本實(shí)用新型還提供了一種一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)模組，包括機(jī)械校準(zhǔn)工裝，機(jī)械校準(zhǔn)模組進(jìn)一步包括頂部掛鉤模組，頂部掛鉤模組包括爪形掛鉤。該一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝和包括其的機(jī)械校準(zhǔn)模組可以在核酸分析儀器總裝階段對核酸分析儀器實(shí)現(xiàn)精確調(diào)試，進(jìn)而提高核酸分析儀器調(diào)試后的機(jī)械精度，提高核酸分析儀器調(diào)試的效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及機(jī)械校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝和包括其的機(jī)械校準(zhǔn)模組。

背景技術(shù)

體外診斷的核酸分析儀器是一種高集成度的一體機(jī)，它的運(yùn)行需要確保卡盒與核酸分析儀器的安裝位置精確。但是由于不可避免的加工誤差和安裝等原因，通常無法僅僅通過尺寸設(shè)計(jì)來確保核酸分析儀器與卡盒之間安裝的精準(zhǔn)定位。而卡盒與核酸分析儀安裝不準(zhǔn)確，將可能會導(dǎo)致核酸分析儀器運(yùn)行不流暢、故障發(fā)生率相對較高、分析結(jié)果準(zhǔn)確率降低等不良后果。

因此，急需一種新技術(shù)來解決上述問題。

實(shí)用新型內(nèi)容

為彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本申請?zhí)峁┮环N一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝和包括其的機(jī)械校準(zhǔn)模組。該一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝和包括其的機(jī)械校準(zhǔn)模組可以通過采用仿形核酸分析儀器配套卡盒的機(jī)械校準(zhǔn)工裝，在核酸分析儀器總裝階段對核酸分析儀器實(shí)現(xiàn)精確調(diào)試，進(jìn)而提高核酸分析儀器調(diào)試后的機(jī)械精度，提高核酸分析儀器調(diào)試的效率。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝。

機(jī)械校準(zhǔn)工裝包括工裝主體、若干定位孔和若干定位凸起，若干定位孔至少設(shè)置于工裝主體的兩個(gè)面上，若干定位凸起至少設(shè)置于工裝主體的一個(gè)面上，至少部分若干定位孔和/或至少部分若干定位凸起陣列設(shè)置。

優(yōu)選地，工裝主體包括呈階梯狀的頂面，頂面包括第一水平頂面區(qū)域和第二水平頂面區(qū)域，第一水平頂面區(qū)域高于第二水平頂面區(qū)域，第一水平頂面區(qū)域和第二水平頂面區(qū)域通過過渡區(qū)域相連，若干定位凸起設(shè)置于第一水平頂面區(qū)域和第二水平頂面區(qū)域上。

優(yōu)選地，若干定位孔至少設(shè)置于工裝主體的相鄰的底面和側(cè)面上。

優(yōu)選地，至少部分若干定位孔為貫穿工裝主體的通孔。

優(yōu)選地，至少部分若干定位孔為貫穿工裝主體頂面和底面的定位通孔，定位通孔包括第一通孔段和第二通孔段，第一通孔段的直徑大于第二通孔段的直徑。

本實(shí)用新型還提供了一種一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)模組。

機(jī)械校準(zhǔn)模組包括如上任一的一體機(jī)機(jī)械校準(zhǔn)工裝，機(jī)械校準(zhǔn)模組進(jìn)一步包括頂部掛鉤模組，頂部掛鉤模組包括爪形掛鉤，頂部掛鉤模組與定位孔配合以定位機(jī)械校準(zhǔn)工裝的橫向基準(zhǔn)位和/或頂部掛鉤模組與定位凸起配合。

優(yōu)選地，至少兩個(gè)頂部掛鉤模組中的一個(gè)頂部掛鉤模組至少部分設(shè)置于定位孔內(nèi)，至少部分定位凸起設(shè)置于至少兩個(gè)頂部掛鉤模組中的另一個(gè)頂部掛鉤模組的爪形掛鉤內(nèi)部由掛鉤爪圍合而成的中空區(qū)域內(nèi)。

優(yōu)選地，工裝主體包括呈階梯狀的頂面，頂面包括第一水平頂面區(qū)域和第二水平頂面區(qū)域，第一水平頂面區(qū)域高于第二水平頂面區(qū)域，第一水平頂面區(qū)域和第二水平頂面區(qū)域通過過渡區(qū)域相連，若干定位凸起陣列設(shè)置于第一水平頂面區(qū)域上，至少兩個(gè)頂部掛鉤模組中的另一個(gè)頂部掛鉤模組與設(shè)置于第一水平頂面區(qū)域上的定位凸起配合。

優(yōu)選地，機(jī)械校準(zhǔn)模組進(jìn)一步包括與定位孔配合以定位機(jī)械校準(zhǔn)工裝的基準(zhǔn)位的后部推桿模組，后部推桿模組包括橫向設(shè)置的后部推桿，至少部分的后部推桿設(shè)置于定位孔內(nèi)。

優(yōu)選地，機(jī)械校準(zhǔn)模組進(jìn)一步包括與定位孔配合以定位機(jī)械校準(zhǔn)工裝的基準(zhǔn)位的底部磁棒模組，底部磁棒模組包括至少頂部設(shè)置有磁鐵的磁棒，至少部分的磁棒設(shè)置于定位孔內(nèi)。