[實用新型]光模塊發射一體測試系統及裝置

有效

• 申請號: 202320058392.1
• 申請日: 2023-01-09
• 公開（公告）號: CN219322399U
• 公開（公告）日: 2023-07-07
• 發明（設計）人: 王苗慶;徐華良;陳志超;俞國平
• 申請（專利權）人: 紹興中科通信設備有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;G01J1/42;G01M11/02;H04B10/564
• 代理公司: 紹興市越興專利事務所(普通合伙) 33220
• 代理人: 高林

1.一種光模塊發射一體測試系統，其特征在于，包括第一光分路器、第二光分路器、光衰減器、放大器、CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一、光功率探測器二及控制器；

所述第一光分路器的輸入端用于接收光模塊發出的光，輸出端分別與光衰減器、光功率探測器二的光輸入端連接，所述光衰減器的光輸出端與第二光分路器的輸入端連接，光衰減器的電輸入端與放大器的輸出端電連接，控制器與放大器之間雙向電連接，所述第二光分路器的輸出端分別與CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一的光輸入端連接，所述控制器的輸入端分別與CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一、光功率探測器二的電輸出端電連接。

2.如權利要求1所述的一種光模塊發射一體測試系統，其特征在于，所述第一光分路器為1×2光分路器。

3.如權利要求1所述的一種光模塊發射一體測試系統，其特征在于，所述第二光分路器為1×3光分路器。

4.如權利要求1所述的一種光模塊發射一體測試系統，其特征在于，所述幅值測試電路包括光電轉換器和幅值芯片，所述光電轉換器的光輸入端與第二光分路器的輸出端連接，光電轉換器的電輸出端與幅值芯片的輸入端電連接，所述幅值芯片的輸出端與控制器的輸入端電連接。

5.如權利要求1所述的一種光模塊發射一體測試系統，其特征在于，包括波分復用器、1×N路光開關和光開關控制板，所述波分復用器的輸入端與第一光分路器的輸出端連接，波分復用器的輸出端與1×N路光開關的光輸入端連接，所述1×N路光開關的光輸出端與光功率探測器二的光輸入端連接，所述光開關控制板分別與1×N路光開關、控制器雙向電連接。

6.如權利要求5所述的一種光模塊發射一體測試系統，其特征在于，所述1×N路光開關為1×8路光開關。

7.一種光模塊發射一體測試裝置，其特征在于，包括機箱，機箱內設有權利要求1至6任一所述的光模塊發射一體測試系統。