[實用新型]光模塊發(fā)射一體測試系統(tǒng)及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202320058392.1
• 申請日: 2023-01-09
• 公開（公告）號: CN219322399U
• 公開（公告）日: 2023-07-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王苗慶;徐華良;陳志超;俞國平
• 申請（專利權(quán)）人: 紹興中科通信設(shè)備有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;G01J1/42;G01M11/02;H04B10/564
• 代理公司: 紹興市越興專利事務(wù)所(普通合伙) 33220
• 代理人: 高林

本實用新型涉及一種光模塊發(fā)射一體測試系統(tǒng)及裝置，包括第一光分路器、第二光分路器、光衰減器、放大器、CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一、光功率探測器二及控制器；第一光分路器的輸出端分別與光衰減器、光功率探測器二的光輸入端連接，光衰減器的光輸出端與第二光分路器的輸入端連接，光衰減器的電輸入端與放大器的輸出端連接，控制器與放大器雙向電連接，第二光分路器的輸出端分別與CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一的光輸入端連接，控制器的輸入端分別與CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一、光功率探測器二的電輸出端連接，優(yōu)點在于：解決了光模塊測試發(fā)射時各性能一體測試的能力，提升了測試效率，降低了成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光模塊發(fā)射一體測試系統(tǒng)及裝置。

背景技術(shù)

眼圖和消光比是光模塊性能的重要測試指標(biāo)，而眼圖分析和消光比測試需要使用示波器（眼圖儀），如專利CN111934758B中，就公開了一種光模塊發(fā)射光功率和眼圖的自動調(diào)測方法及裝置，該裝置在測試時就需要用到示波器。但現(xiàn)有的示波器被美國的一些企業(yè)如是德科技、泰克、安利等壟斷，成本很高，光模塊測試若采用多通道并行測試的方式，需要同時用到多臺示波器，會進(jìn)一步增加測試的成本。

在專利CN110057546A中，公開了一種低成本簡易光眼圖消光比測量方法及系統(tǒng)，通過測試光功率和光調(diào)制幅值，來完成消光比的測試，但該系統(tǒng)存在以下缺陷：1.?不能進(jìn)行發(fā)射光的眼圖解析；2.?不能測試光的波長。

基于此，本案由此提出。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的之一在于提供一種光模塊發(fā)射一體測試系統(tǒng)，用于測試光模塊的消光比、光功率大小、發(fā)射光波長及發(fā)射光眼圖解析。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型的技術(shù)方案如下：

一種光模塊發(fā)射一體測試系統(tǒng)，包括第一光分路器、第二光分路器、光衰減器、放大器、CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一、光功率探測器二及控制器；

所述第一光分路器的輸入端用于接收光模塊發(fā)出的光，輸出端分別與光衰減器、光功率探測器二的光輸入端連接，所述光衰減器的光輸出端與第二光分路器的輸入端連接，光衰減器的電輸入端與放大器的輸出端電連接，控制器與放大器之間雙向電連接，所述第二光分路器的輸出端分別與CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一的光輸入端連接，所述控制器的輸入端分別與CDR探測電路、幅值測試電路、光功率探測器一、光功率探測器二的電輸出端電連接。

進(jìn)一步的，所述第一光分路器為1×2光分路器。

進(jìn)一步的，所述第二光分路器為1×3光分路器。

進(jìn)一步的，所述幅值測試電路包括光電轉(zhuǎn)換器和幅值芯片，所述光電轉(zhuǎn)換器的光輸入端與第二光分路器的輸出端連接，光電轉(zhuǎn)換器的電輸出端與幅值芯片的輸入端電連接，所述幅值芯片的輸出端與控制器的輸入端電連接。

進(jìn)一步的，包括波分復(fù)用器、1×N路光開關(guān)和光開關(guān)控制板，所述波分復(fù)用器的輸入端與第一光分路器的輸出端連接，波分復(fù)用器的輸出端與1×N路光開關(guān)的光輸入端連接，所述1×N路光開關(guān)的光輸出端與光功率探測器二的光輸入端連接，所述光開關(guān)控制板分別與1×N路光開關(guān)、控制器雙向電連接。

進(jìn)一步的，所述1×N路光開關(guān)為1×8路光開關(guān)。

本實用新型的目的之二在于提供一種光模塊發(fā)射一體測試裝置，包括機(jī)箱，機(jī)箱內(nèi)設(shè)有上述光模塊發(fā)射一體測試系統(tǒng)。

本實用新型的優(yōu)點在于：

1.?解決了光模塊測試發(fā)射時各性能一體測試的能力，包括消光比測試、光功率大小測試、發(fā)射光波長測試及發(fā)射光眼圖解析，同時，通過控制器讀取幅值芯片的模擬值，并轉(zhuǎn)換成數(shù)字量進(jìn)而判斷消光比的大小，可實現(xiàn)電腦控制測試設(shè)備把被測光模塊消光比參數(shù)調(diào)到合適范圍；