[發明專利]一種存儲測試設備及其測試方法

有效

• 申請號: 202310889908.1
• 申請日: 2023-07-20
• 公開（公告）號: CN116610512B
• 公開（公告）日: 2023-10-03
• 發明（設計）人: 潘慧敏;趙啟鵬
• 申請（專利權）人: 合肥康芯威存儲技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/36
• 代理公司: 上海漢之律師事務所 31378
• 代理人: 吳向青

1.一種存儲測試設備，其特征在于，用于獲取存儲器的功耗轉換時長，其中所述存儲器中存儲預設數據，所述存儲測試設備包括：

掉上電模塊，在所述存儲器的高功耗狀態結束時，延遲初始功耗轉換時長后，所述掉上電模塊將所述存儲器斷電并重新上電；

數據輸入模塊，所述數據輸入模塊中存儲初始基準時間和初始時間步長；

基準時間訓練模塊，所述基準時間訓練模塊接收并調整所述初始基準時間，直到掉電前預設數據和掉電后預設數據不同，獲得標定基準時間；以及

時間步長獲取模塊，所述時間步長獲取模塊獲取所述標定基準時間和所述初始時間步長，并調整所述初始時間步長，直到所述掉電前預設數據和所述掉電后預設數據相同，獲得標定時間步長。

2.根據權利要求1所述的一種存儲測試設備，其特征在于，在所述掉上電模塊重新上電后，所述掉電后預設數據存儲在所述存儲器的閃存區或緩存區。

3.根據權利要求1所述的一種存儲測試設備，其特征在于，所述初始功耗轉換時長為所述標定基準時間和所述標定時間步長的和。

4.一種存儲測試設備的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

掉上電步驟，在存儲器的高功耗狀態結束時，延遲初始功耗轉換時長后，將所述存儲器斷電并重新上電；

數據讀寫步驟，在所述存儲器的高功耗狀態下，對所述存儲器寫入掉電前預設數據，并在所述存儲器重新上電后，讀出掉電后預設數據；

標定基準時間獲取步驟，預設初始基準時間，調整所述初始基準時間，直到所述掉電前預設數據和所述掉電后預設數據不同，獲得標定基準時間；以及

標定時間步長獲取步驟，預設初始時間步長，調整所述初始時間步長，直到所述掉電前預設數據和所述掉電后預設數據一致，獲得標定時間步長；

其中，所述初始功耗轉換時長為所述標定基準時間和所述標定時間步長的和。

5.根據權利要求4所述的一種存儲測試設備的測試方法，其特征在于，在獲得所述標定時間步長后，執行所述標定時間步長獲取步驟。

6.根據權利要求4所述的一種存儲測試設備的測試方法，其特征在于，調整所述初始基準時間的步驟包括：

在所述掉上電步驟中，將所述初始功耗轉換時長設置為所述初始基準時間；

執行所述數據讀寫步驟和所述掉上電步驟，且當所述掉電前預設數據和所述掉電后預設數據相同，降低所述初始基準時間，并重新執行所述掉上電步驟和所述數據讀寫步驟；以及

當所述掉電前預設數據和所述掉電后預設數據不同，將此時的所述初始基準時間設置為所述標定基準時間。

7.根據權利要求6所述的一種存儲測試設備的測試方法，其特征在于，在降低所述初始基準時間的步驟中，降低后的所述初始基準時間為前次所述初始基準時間的一半。

8.根據權利要求4所述的一種存儲測試設備的測試方法，其特征在于，調整所述初始時間步長的步驟包括：

在所述掉上電步驟中，將所述初始功耗轉換時長設置為所述標定基準時間和所述初始時間步長的和；

執行所述數據讀寫步驟和所述掉上電步驟，且當所述掉電前預設數據和所述掉電后預設數據不同，增加所述初始時間步長，并重新執行所述掉上電步驟和所述數據讀寫步驟；以及

當所述掉電前預設數據和所述掉電后預設數據相同，將此時的所述初始時間步長設置為所述標定時間步長。

9.根據權利要求8所述的一種存儲測試設備的測試方法，其特征在于，在增加所述初始時間步長的步驟中，增加后的所述初始時間步長為前次所述初始時間步長的2倍。

10.根據權利要求4所述的一種存儲測試設備的測試方法，其特征在于，在獲得所述初始功耗轉換時長后，獲取所述存儲測試設備的誤差率，根據所述誤差率，調整所述初始功耗轉換時長，獲得并輸出標定功耗轉換時長。