[發(fā)明專利]基于透射射線的檢測系統(tǒng)、檢測方法以及檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310745743.0 | 申請日: | 2023-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN116661012A | 公開(公告)日: | 2023-08-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 路凱凱;董濤;趙偉;徐光明 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州睿影科技有限公司 |
| 主分類號: | G01V5/00 | 分類號: | G01V5/00;G01N23/203;G01N23/207 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11018 | 代理人: | 陳舒維;宋志強 |
| 地址: | 310051 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 透射 射線 檢測 系統(tǒng) 方法 以及 裝置 | ||
本申請涉及基于透射射線的檢測系統(tǒng)、檢測方法以及檢測裝置。基于本申請,可以在成像檢測通道中對被檢對象進行背散射成像,利用背散射圖像對目標物質(zhì)具有“高亮效果”的特性,可以對被檢對象進行可疑藏匿封裝體的篩查;若篩查出被檢對象的內(nèi)部具有可疑藏匿封裝體,則還可以將該被檢對象從途經(jīng)成像檢測通道的第一傳送機構(gòu)轉(zhuǎn)移至途經(jīng)衍射檢測通道的第二傳送機構(gòu),以便于在衍射檢測通道對該可疑藏匿封裝體進行用于確定其是否藏匿目標物質(zhì)的衍射檢測,并且可以避免衍射檢測的耗時與第一傳送機構(gòu)的實時傳送需求之間的沖突,從而,有助于在兼顧實時傳送需求的情況下避免對藏匿的目標物質(zhì)的漏檢。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及安防領(lǐng)域,特別涉及一種基于透射射線的檢測系統(tǒng)、一種基于透射射線的檢測方法、以及一種基于透射射線的檢測裝置。
背景技術(shù)
在用于安防的檢測系統(tǒng)中,常使用諸如X射線等透射射線對諸如便攜式箱包或物流包裹等實時傳送的被檢對象進行透射成像。由于射線穿透被測對象后的強度將發(fā)生衰減,并且,基于透射成像得到的透射圖像中的像素值可以體現(xiàn)透射射線的衰減程度,因此,通過透射圖像中的像素值,可以識別出被檢對象的內(nèi)部物質(zhì)的物質(zhì)類別。
其中,諸如毒品和爆炸物等危及人身安全的危險物質(zhì)屬于低原子序數(shù)的有機物,其衰減系數(shù)遠低于諸如金屬等高原子序數(shù)的無機物對透射射線的衰減系數(shù),因此,在以此類危險物質(zhì)為目標物質(zhì)而對透射圖像進行目標識別時,若透射圖像中存在表征射線弱衰減的像素區(qū)域,則,可以成功識別出被檢對象的內(nèi)部具有此類危險物質(zhì)。
然而,若被檢對象內(nèi)部的上述危險物質(zhì)被藏匿在高原子序數(shù)的無機物中,例如,危險物質(zhì)被藏匿在金屬制品的夾層中,則,藏匿危險物質(zhì)的高原子序數(shù)無機物會對透射射線產(chǎn)生強衰減,以至于在以此類危險物質(zhì)為目標物質(zhì)而對透射圖像進行目標識別時,透射圖像中的對應(yīng)像素區(qū)域無法體現(xiàn)出此類危險物質(zhì)應(yīng)有的射線弱衰減程度,從而導(dǎo)致對藏匿的目標物質(zhì)的漏檢。
雖然諸如XRD(X-ray?diffraction,X射線衍射)等基于透射射線衍射的衍射檢測可以識別出藏匿在高原子序數(shù)無機物中的目標物質(zhì),但是,基于透射射線衍射的衍射檢測耗時較長,無法適用于存在實時傳送需求的檢測系統(tǒng),因此,衍射檢測不能替代檢測系統(tǒng)中既有的透射成像方式。
如上可見,如何在兼顧實時傳送需求的情況下避免對藏匿的目標物質(zhì)的漏檢,成為現(xiàn)有技術(shù)中有待解決的技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請的實施例提供一種基于透射射線的檢測系統(tǒng)、一種基于透射射線的檢測方法、以及一種基于透射射線的檢測裝置,有助于在兼顧實時傳送需求的情況下避免對藏匿的目標物質(zhì)的漏檢。
在本申請的一個實施例中,一種基于透射射線的檢測系統(tǒng)包括:
第一傳送機構(gòu),用于傳送被檢對象途經(jīng)成像檢測通道,所述成像檢測通道部署有用于產(chǎn)生第一透射射線的第一射線源、以及背散射探測器陣列,所述背散射探測器陣列用于基于所述第一透射射線在所述被檢對象形成的背散射射線生成背散射成像數(shù)據(jù);
第二傳送機構(gòu),用于傳送所述被檢對象途經(jīng)衍射檢測通道,所述衍射檢測通道部署有用于產(chǎn)生第二透射射線的第二射線源、以及衍射檢測組件,所述衍射檢測組件用于基于所述第二透射射線穿透所述被檢對象產(chǎn)生的衍射射線生成衍射能量譜數(shù)據(jù);
處理器組件,用于:
利用基于所述背散射成像數(shù)據(jù)生成的背散射圖像,篩查所述被檢對象中是否包括可疑藏匿封裝體;
響應(yīng)于對所述可疑藏匿封裝體的成功篩查,將被所述第一傳送機構(gòu)傳送出所述成像檢測通道的所述被檢對象轉(zhuǎn)移至所述第二傳送機構(gòu),以促使所述被檢對象被所述第二傳送機構(gòu)送達所述衍射檢測通道;
基于在所述被檢對象位于所述衍射檢測通道的期間內(nèi)生成的所述衍射能量譜數(shù)據(jù),確定所述可疑藏匿封裝體中是否藏匿有所述目標物質(zhì)。
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