[發(fā)明專利]基于透射射線的檢測系統(tǒng)、檢測方法以及檢測裝置

在審

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• 申請日: 2023-06-21
• 公開（公告）號: CN116661012A
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發(fā)明（設計）人: 路凱凱;董濤;趙偉;徐光明
• 申請（專利權）人: 杭州睿影科技有限公司
• 主分類號: G01V5/00
• 分類號: G01V5/00;G01N23/203;G01N23/207
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司 11018
• 代理人: 陳舒維;宋志強

1.一種基于透射射線的檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括：

第一傳送機構，用于傳送被檢對象途經成像檢測通道，所述成像檢測通道部署有用于產生第一透射射線的第一射線源、以及背散射探測器陣列，所述背散射探測器陣列用于基于所述第一透射射線在所述被檢對象形成的背散射射線生成背散射成像數據；

第二傳送機構，用于傳送所述被檢對象途經衍射檢測通道，所述衍射檢測通道部署有用于產生第二透射射線的第二射線源、以及衍射檢測組件，所述衍射檢測組件用于基于所述第二透射射線穿透所述被檢對象產生的衍射射線生成衍射能量譜數據；

處理器組件，用于：

利用基于所述背散射成像數據生成的背散射圖像，篩查所述被檢對象中是否包括可疑藏匿封裝體；

響應于對所述可疑藏匿封裝體的成功篩查，將被所述第一傳送機構傳送出所述成像檢測通道的所述被檢對象轉移至所述第二傳送機構，以促使所述被檢對象被所述第二傳送機構送達所述衍射檢測通道；

基于在所述被檢對象位于所述衍射檢測通道的期間內生成的所述衍射能量譜數據，確定所述可疑藏匿封裝體中是否藏匿有目標物質。

2.根據權利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，

所述成像檢測通道還部署有透射探測器陣列，所述透射探測器陣列用于基于所述第一透射射線穿透所述被檢對象后的透射衰減射線產生透射成像數據；

所述處理器組件被具體配置為：

在基于所述透射成像數據生成的透射圖像中，識別所述被檢對象中的所述目標物質；

利用所述背散射圖像，篩查所述被檢對象中除所述目標物質之外的非目標物質是否包括可疑藏匿封裝體。

3.根據權利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，

所述處理器組件被具體配置為：

在所述背散圖像中檢測用于表征所述可疑藏匿封裝體的高亮像素區(qū)域，所述高亮像素區(qū)域中的各像素的像素值均高于預設像素閾值。

4.根據權利要求3所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，

所述成像檢測通道還部署有透射探測器陣列，所述透射探測器陣列用于基于所述第一透射射線穿透所述被檢對象后的透射衰減射線產生透射成像數據；

所述處理器組件被具體配置為：

基于對所述背散射圖像的尺度轉換，生成與基于所述透射成像數據生成的透射圖像具有適配尺度的適配背散射圖像；

確定所述目標物質在所述透射圖像中的目標識別區(qū)域，在所述適配背散射圖像中位置匹配的像素映射區(qū)域，并且將所述適配背散射圖像中的所述像素映射區(qū)域的像素值置零；

基于對所述適配背散射圖像中的非零像素的輪廓檢測，得到對所述被檢對象的內部物質在所述適配背散射圖像中的輪廓位置區(qū)域；

基于所述輪廓位置區(qū)域，對所述背散射圖像進行區(qū)域分割；

在所述背散射圖像中通過所述區(qū)域分割得到的各像素區(qū)域中，搜索所述高亮像素區(qū)域。

5.根據權利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，

所述處理器組件進一步用于：

響應于對所述可疑藏匿封裝體的成功篩查，以所述可疑藏匿封裝體在所述第一傳送機構的掃描傳送方向上的掃描識別位置為起始位置，對所述可疑藏匿封裝體進行位置跟蹤，所述位置跟蹤與所述第一傳送機構的第一傳送速率、以及所述第二傳送機構的第二傳送速率關聯(lián)；

基于對所述可疑藏匿封裝體的位置跟蹤結果，確定所述可疑藏匿封裝體到達所述衍射檢測通道。

6.根據權利要求5所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，

所述第二透射射線沿垂直于所述第二傳送機構的送檢傳送方向的線性方向分布；

所述處理器組件被具體配置為：

當所述位置跟蹤結果與所述線性覆蓋范圍位置匹配時，確定所述可疑藏匿封裝體到達所述衍射檢測通道。