[發明專利]一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統

在審

• 申請號: 202310647121.4
• 申請日: 2023-06-02
• 公開（公告）號: CN116380934A
• 公開（公告）日: 2023-07-04
• 發明（設計）人: 梁曉輝;紀超;邱鑒煥
• 申請（專利權）人: 中山市美速光電技術有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/01;G02B6/36
• 代理公司: 北京清控智云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11919
• 代理人: 段安婧

本發明公開了一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，包括基臺、設置在基臺上的CCD檢測裝置、光纖陣列夾具、調整臺，光纖陣列夾具用于夾持和固定光纖陣列；CCD檢測裝置用于檢測光纖陣列端部的待檢測端面；光纖陣列夾具設置在調整臺上，調整臺設置在基臺上；調整臺用于調整光纖陣列夾具的位置和傾斜角度；光纖陣列夾具包括支撐座、夾持機構、固定機構，夾持機構用于夾持光纖陣列端部的基片，固定機構用于對光纖陣列端部的基片進行固定；支撐座的頂面上設有用于固定基片的工位；夾持機構包括設置在支撐座上的導軌、沿導軌靠近或遠離工位以對基片進行夾持或釋放的夾持單元；固定機構能對工位上的基片進行抵接固定。

技術領域

本發明涉及光纖陣列檢測技術領域，尤其涉及一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統。

背景技術

光纖列陣簡稱FA，在開設有V形槽的陣列基片上，將除去光纖涂層的裸露光纖部分放置于該V形槽中，蓋上加壓蓋板后通過膠水粘合，然后對光纖陣列的端面進行研磨拋光，得到FA光纖陣列產品。拋光后的光纖陣列端面需要檢測是否存在污漬、破損等情況。目前，通常采用光纖陣列夾具將光纖陣列進行夾持固定，然后在CCD相機下觀察光纖陣列的端面是否存在污漬、破損等情況。

公開號為CN202329585U的實用新型專利公開了一種光纖陣列端面檢測夾具，包括底座和固定連接底座一側的固定塊，所述固定塊一端可旋轉連接有壓柄；所述壓柄底側上成型有壓塊，所述固定塊上相對應的位置設有固定槽，所述壓塊的高度小于固定槽的深度；所述固定塊設有插孔，插孔連通固定槽，所述插孔內設有頂針；使用時，為了更好的夾持光纖陣列，需要完成旋轉壓柄和插入頂針兩個動作以實現光纖陣列在水平方向和豎直方向上的夾持固定，使用不夠方便，從而降低了光纖陣列端面檢測的效率。

背景技術的前述論述僅意圖便于理解本發明。此論述并不認可或承認提及的材料中的任一種公共常識的一部分。

發明內容

本發明的目的在于，針對目前所存在的不足，提出了一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統。

為了克服現有技術的不足，本發明采用如下技術方案：

一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，包括基臺、設置在基臺上的CCD檢測裝置、光纖陣列夾具、調整臺，所述光纖陣列夾具用于夾持和固定光纖陣列；所述CCD檢測裝置用于檢測光纖陣列端部的待檢測端面；所述光纖陣列夾具設置在所述調整臺上，所述調整臺設置在所述基臺上；所述調整臺用于調整所述光纖陣列夾具的位置和傾斜角度；

所述光纖陣列夾具包括支撐座、夾持機構、固定機構，所述夾持機構、固定機構設置在所述支撐座上；所述支撐座設于所述調整臺上；所述夾持機構用于夾持所述光纖陣列端部的基片，所述固定機構用于對所述光纖陣列端部的基片進行固定；

所述支撐座的頂面上設有用于固定所述基片的工位；所述夾持機構包括設置在支撐座上的導軌、沿所述導軌靠近或遠離所述工位以對基片進行夾持或釋放的夾持單元；所述固定機構能對所述工位上的基片進行抵接固定。

進一步的，所述夾持單元包括兩個相對的滑塊、分別設置在兩個滑塊上的夾持頭；兩個所述夾持頭配合用于夾持所述基片。

進一步的，兩個滑塊之間固定連接或一體成型，所述夾持機構還包括把手，所述把手設置在其中一個所述滑塊上。

進一步的，所述夾持機構還包括固定塊，所述固定塊設于所述支撐座的頂面上的與所述工位相對的一端，所述固定塊相對所述支撐座的頂面突設，所述固定塊用于固定所述導軌，所述固定塊與所述導軌的一端連接。

進一步的，所述導軌的數量為兩個且平行設置，兩個導軌的各自另一端均指向所述工位；所述導軌的另一端距離所述工位預設距離；所述滑塊上開設有插孔供所述導軌的所述另一端插入，所述滑塊與所述導軌之間設置有限位機構用于防止所述滑塊完全脫離所述導軌的所述另一端。

進一步的，所述夾持機構還包括套設于每個所述導軌外的復位彈簧，所述復位彈簧的一端與所述固定塊連接，所述復位彈簧的另一端與所述滑塊連接。