[發明專利]一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統

在審

• 申請號: 202310647121.4
• 申請日: 2023-06-02
• 公開（公告）號: CN116380934A
• 公開（公告）日: 2023-07-04
• 發明（設計）人: 梁曉輝;紀超;邱鑒煥
• 申請（專利權）人: 中山市美速光電技術有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/01;G02B6/36
• 代理公司: 北京清控智云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11919
• 代理人: 段安婧

1.一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，包括基臺、設置在基臺上的CCD檢測裝置、光纖陣列夾具、調整臺，所述光纖陣列夾具用于夾持和固定光纖陣列；所述CCD檢測裝置用于檢測光纖陣列端部的待檢測端面；所述光纖陣列夾具設置在所述調整臺上，所述調整臺設置在所述基臺上；所述調整臺用于調整所述光纖陣列夾具的位置和傾斜角度；其特征在于：

所述光纖陣列夾具包括支撐座、夾持機構、固定機構，所述夾持機構、固定機構設置在所述支撐座上；所述支撐座設于所述調整臺上；所述夾持機構用于夾持所述光纖陣列端部的基片，所述固定機構用于對所述光纖陣列端部的基片進行固定；

所述支撐座的頂面上設有用于固定所述基片的工位；所述夾持機構包括設置在支撐座上的導軌、沿所述導軌靠近或遠離所述工位以對基片進行夾持或釋放的夾持單元；所述固定機構能對所述工位上的基片進行抵接固定。

2.如權利要求1所述的一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，其特征在于：所述夾持單元包括兩個相對的滑塊、分別設置在兩個滑塊上的夾持頭；兩個所述夾持頭配合用于夾持所述基片。

3.如權利要求2所述的一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，其特征在于：兩個滑塊之間固定連接或一體成型，所述夾持機構還包括把手，所述把手設置在其中一個所述滑塊上。

4.如權利要求3所述的一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，其特征在于：所述夾持機構還包括固定塊，所述固定塊設于所述支撐座的頂面上的與所述工位相對的一端，所述固定塊相對所述支撐座的頂面突設，所述固定塊用于固定所述導軌，所述固定塊與所述導軌的一端連接。

5.如權利要求4所述的一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，其特征在于：所述導軌的數量為兩個且平行設置，兩個導軌的各自另一端均指向所述工位；所述導軌的另一端距離所述工位預設距離；所述滑塊上開設有插孔供所述導軌的所述另一端插入，所述滑塊與所述導軌之間設置有限位機構用于防止所述滑塊完全脫離所述導軌的所述另一端。

6.如權利要求5所述的一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，其特征在于：所述夾持機構還包括套設于每個所述導軌外的復位彈簧，所述復位彈簧的一端與所述固定塊連接，所述復位彈簧的另一端與所述滑塊連接。

7.如權利要求6所述的一種檢測超微間距光纖陣列的質檢系統，其特征在于：所述夾持頭包括支板、設置在支板上的夾持部；所述支板的縱向平行于所述導軌的軸向，所述支板的縱向一端與所述滑塊連接，所述支板的縱向另一端與所述夾持部連接；所述夾持部包括至少兩個沿所述支板縱向間隔設置的夾持接觸面，兩個所述夾持接觸面的背離兩者之間間隔的一端均通過弧形板與所述支板連接；

所述滑塊的插孔位于所述滑塊的一側，所述滑塊的相對其所述一側的另一側上間隔設置有多個卡槽，所述卡槽縱向平行于所述插孔的軸向，所述卡槽用于與所述支板的所述一端卡接。