[發明專利]折彎檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202310631317.4
• 申請日: 2023-05-30
• 公開（公告）號: CN116539448A
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發明（設計）人: 請求不公布姓名
• 申請（專利權）人: 江蘇立導科技有限公司
• 主分類號: G01N3/20
• 分類號: G01N3/20;G01N3/04;G01N3/06
• 代理公司: 廣州德科知識產權代理有限公司 44381
• 代理人: 王世榮;萬振雄

1.一種折彎檢測裝置(100)，用于檢測工件(200)的折彎質量，所述工件(200)包括第一部分(210)、第二部分(220)和第三部分(230)，所述第一部分(210)和所述第二部分(220)之間具有沿第一方向延伸的第一折彎線(240)，所述第二部分(220)和所述第三部分(230)之間具有沿第二方向延伸的第二折彎線(250)，其特征在于，包括：

機架(110)；

第一定位機構(120)，用于可選擇地固定所述第一部分(210)；

第二定位機構(130)，安裝于所述機架(110)，用于可選擇地固定所述第三部分(230)；

相機模塊(140)，安裝于所述機架(110)，用于對所述工件(110)進行拍照檢測。

2.根據權利要求1所述的折彎檢測裝置(100)，其特征在于，所述第一定位機構(120)包括：

第一吸附件(121)，所述第一吸附件(121)的表面具有第一吸附孔(1211)，所述第一吸附孔(1211)用于吸附工件(200)；和/或

夾緊件，用于夾緊所述工件(200)。

3.根據權利要求1所述的折彎檢測裝置(100)，其特征在于，所述第二定位機構(130)包括：

第一位置調整組件(131)，安裝于所述機架(110)；

第二吸附件(132)，安裝于所述第一位置調整組件(131)的執行端，所述第二吸附件(132)具有第二吸附孔(1322)，所述第二吸附孔(1322)用于吸附工件(200)；

其中，所述第一位置調整組件(131)用于調整所述第二吸附件(132)的位姿。

4.根據權利要求3所述的折彎檢測裝置(100)，其特征在于，所述第一位置調整組件(131)包括：

第一直線模組(1311)，安裝于所述機架(110)，用于在所述第一方向、所述第二方向和第三方向上調整所述第二吸附件(132)的位姿，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向兩兩垂直設置；

第一旋轉模組(1312)，安裝于所述第一直線模組(1311)的執行端，用于驅動所述第二吸附件(132)轉動。

5.根據權利要求1所述的折彎檢測裝置(100)，其特征在于，所述相機模塊(140)包括：

第二位置調整組件(141)，安裝于所述機架(110)；

相機本體(142)，安裝于所述第二位置調整組件(141)的執行端，所述第二位置調整組件(141)用于調整所述相機本體(142)的位姿。

6.根據權利要求1所述的折彎檢測裝置(100)，其特征在于，所述工件(200)具有兩個所述第三部分(230)，兩個所述第三部分(230)沿著所述第二折彎線(250)折彎，所述第二定位機構(130)數量為兩個，沿著所述第一方向，兩個所述第二定位機構(130)相對設置于所述第一定位機構(120)的兩側，第二定位機構(130)與第三部分(230)一一對應。

7.根據權利要求1所述的折彎檢測裝置(100)，其特征在于，所述相機模塊(140)設置有三個，其中兩個所述相機模塊(140)沿著所述第一方向相對設置，用于沿著所述第一方向從兩側對工件(200)進行拍照檢測，另一個所述相機模塊(140)用于沿著所述第二方向對工件(200)進行拍照檢測。