[發明專利]觸控芯片的檢測方法、裝置和電子設備

在審

• 申請號: 202310628872.1
• 申請日: 2023-05-30
• 公開（公告）號: CN116660726A
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 張健
• 申請（專利權）人: 維沃移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 喬珊珊

1.一種觸控芯片的檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

對觸控芯片的目標接收通道進行內部互容采樣，獲得所述目標接收通道的第一采樣數據，其中，所述內部互容采樣為在目標過程中采集數據，所述目標過程為所述觸控芯片的發射通道發射的信號通過所述觸控芯片的內部電路傳導，并由所述觸控芯片的接收通道接收的過程，所述目標接收通道包括所述觸控芯片的至少一個接收通道，所述第一采樣數據用于指示所述目標接收通道的噪聲特征；

根據所述目標接收通道的第一采樣數據，檢測所述觸控芯片是否存在異常。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對觸控芯片的目標接收通道進行內部互容采樣，獲得所述目標接收通道的第一采樣數據，包括：

在M個頻點，分別對所述目標接收通道進行N次內部互容采樣，得到所述目標接收通道的每一個接收通道在每一個頻點下的N個模擬前端電路噪聲值，其中，一次所述內部互容采樣采集得到一個所述模擬前端電路噪聲值，所述模擬前端電路包括所述觸控芯片的內部電路中的可編程增益放大電路、用于進行電流和電壓控制的電路和采樣保持電路；

根據計算得到所述目標接收通道包括的每一個接收通道的第一采樣數據的值AFE?Circuit?Noise；

其中，Amp[j][i]表示一個接收通道在第j個頻點下的第i個模擬前端電路噪聲值，M和N分別為大于或等于1的整數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標接收通道的第一采樣數據，檢測所述觸控芯片是否存在異常，包括：

對比所述目標接收通道包括的每一個接收通道的第一采樣數據的數值，與所述接收通道對應的第一卡控值；

在所述接收通道的第一采樣數據的數值小于或等于所述接收通道對應的第一卡控值的情況下，確定所述接收通道不存在異常，或者，在所述接收通道的第一采樣數據的數值大于所述接收通道對應的第一卡控值的情況下，確定所述接收通道存在異常；

在所述目標接收通道中的至少一個所述接收通道存在異常的情況下，確定所述觸控芯片存在異常，或者，在所述目標接收通道包括的所述接收通道均不存在異常的情況下，確定所述觸控芯片不存在異常。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標接收通道的第一采樣數據，檢測所述觸控芯片是否存在異常，包括：

對比所述目標接收通道包括的每一個接收通道的第一采樣數據的數值，與所述接收通道對應的第一卡控值；

在所述接收通道的第一采樣數據的數值小于或等于所述接收通道對應的第一卡控值的情況下，確定所述接收通道不存在異常，或者，在所述接收通道的第一采樣數據的數值大于所述接收通道對應的第一卡控值的情況下，確定所述接收通道存在異常；

在所述目標接收通道包括的所述接收通道均不存在異常的情況下，將所述目標接收通道中包括的中間接收通道中每相鄰的兩個接收通道劃分為一組，得到P個分組，其中，P為正整數，所述中間接收通道包括所述觸控芯片的接收通道中，與所述觸控芯片連接的觸控面板的第一區域對應的接收通道，所述第一區域包括所述觸控面板上除第二區域之外的區域，所述第二區域的邊界距離所述觸控面板的邊界小于目標距離；

在第v個分組中的接收通道的第一采樣數據的數值均大于第二卡控值的情況下，確定第v個所述分組存在異常，或者，在第v個所述分組中的接收通道的第一采樣數據的數值中，至少一個數值小于或等于所述第二卡控值的情況下，確定第v個分組不存在異常，其中，v為1至P的整數，所述第二卡控值小于所述第一卡控值；

在至少一個分組存在異常的情況下，確定所述觸控芯片存在異常，或者，在第1至P個分組均不存在異常的情況下，確定所述觸控芯片不存在異常。

5.根據權利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述目標接收信道中包括的各個接收信道對應的第一卡控值相同，或者，所述目標接收信道中包括的各個接收信道對應的第一卡控值中存在不同的值。