[發(fā)明專利]觸控芯片的檢測方法、裝置和電子設備

在審

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• 申請日: 2023-05-30
• 公開（公告）號: CN116660726A
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發(fā)明（設計）人: 張健
• 申請（專利權）人: 維沃移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產(chǎn)權代理有限公司 11319
• 代理人: 喬珊珊

本申請公開了一種觸控芯片的檢測方法、裝置和電子設備，屬于電子技術領域。該觸控芯片的檢測方法包括：對觸控芯片的目標接收通道進行內(nèi)部互容采樣，獲得所述目標接收通道的第一采樣數(shù)據(jù)，其中，所述內(nèi)部互容采樣為在目標過程中采集數(shù)據(jù)，所述目標過程為所述觸控芯片的發(fā)射通道發(fā)射的信號通過所述觸控芯片的內(nèi)部電路傳導，并由所述觸控芯片的接收通道接收的過程，所述目標接收通道包括所述觸控芯片的至少一個接收通道，所述第一采樣數(shù)據(jù)用于指示所述目標接收通道的噪聲特征；根據(jù)所述目標接收通道的第一采樣數(shù)據(jù)，檢測所述觸控芯片是否存在異常。

技術領域

本申請屬于電子技術領域，具體涉及一種觸控芯片的檢測方法、裝置和電子設備。

背景技術

隨著科技的發(fā)展，觸摸屏也從之前的電阻屏發(fā)展為現(xiàn)在支持多指觸摸的電容屏，電容屏是一種高靈敏度、高精度的觸摸屏幕技術。因此，電容屏的生產(chǎn)制造過程需要高度的自動化和精密度，以確保產(chǎn)品的質量和穩(wěn)定性。

其中，對于電容屏這一模組的測試，在模組端(即電容屏未安裝到終端設備上之前)和整機端(即電容屏安裝到終端設備上之后)均可以進行測試。主要包括如下幾項：互容原始電容值、噪聲檢測、自容原始電容值、開路測試、短路測試等，其中，每個測試項的都存在一定的局限性，因此，現(xiàn)有技術中電容屏模組的誤檢測幾率較高。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例的目的是提供一種觸控芯片的檢測方法、裝置和電子設備，能夠解決現(xiàn)有技術中電容屏模組的誤檢測幾率較高的問題。

第一方面，本申請實施例提供了一種觸控芯片的檢測方法，所述方法包括：

對觸控芯片的目標接收通道進行內(nèi)部互容采樣，獲得所述目標接收通道的第一采樣數(shù)據(jù)，其中，所述內(nèi)部互容采樣為在目標過程中采集數(shù)據(jù)，所述目標過程為所述觸控芯片的發(fā)射通道發(fā)射的信號通過所述觸控芯片的內(nèi)部電路傳導，并由所述觸控芯片的接收通道接收的過程，所述目標接收通道包括所述觸控芯片的至少一個接收通道，所述第一采樣數(shù)據(jù)用于指示所述目標接收通道的噪聲特征；

根據(jù)所述目標接收通道的第一采樣數(shù)據(jù)，檢測所述觸控芯片是否存在異常。

第二方面，本申請實施例提供了一種觸控芯片的檢測裝置，所述裝置包括：

采樣模塊，用于對觸控芯片的目標接收通道進行內(nèi)部互容采樣，獲得所述目標接收通道的第一采樣數(shù)據(jù)，其中，所述內(nèi)部互容采樣為在目標過程中采集數(shù)據(jù)，所述目標過程為所述觸控芯片的發(fā)射通道發(fā)射的信號通過所述觸控芯片的內(nèi)部電路傳導，并由所述觸控芯片的接收通道接收的過程，所述目標接收通道包括所述觸控芯片的至少一個接收通道，所述第一采樣數(shù)據(jù)用于指示所述目標接收通道的噪聲特征；

檢測模塊，用于根據(jù)所述目標接收通道的第一采樣數(shù)據(jù)，檢測所述觸控芯片是否存在異常。

第三方面，本申請實施例提供了一種電子設備，該電子設備包括處理器和存儲器，所述存儲器存儲可在所述處理器上運行的程序或指令，所述程序或指令被所述處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如第一方面所述的方法的步驟。

第四方面，本申請實施例提供了一種可讀存儲介質，所述可讀存儲介質上存儲程序或指令，所述程序或指令被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如第一方面所述的方法的步驟。

第五方面，本申請實施例提供了一種芯片，所述芯片包括處理器和通信接口，所述通信接口和所述處理器耦合，所述處理器用于運行程序或指令，實現(xiàn)如第一方面所述的方法。

第六方面，本申請實施例提供一種計算機程序產(chǎn)品，該程序產(chǎn)品被存儲在存儲介質中，該程序產(chǎn)品被至少一個處理器執(zhí)行以實現(xiàn)如第一方面所述的方法。