[發(fā)明專利]顆粒粒徑分布的測量方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310614950.2 | 申請日: | 2023-05-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116596989A | 公開(公告)日: | 2023-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張世超;魏青;吳軍 | 申請(專利權(quán))人: | 中鋁鄭州有色金屬研究院有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/62 | 分類號(hào): | G06T7/62;G06T7/11;G06T5/00;G06V20/69;G06V10/44;G06V30/146 |
| 代理公司: | 北京華沛德權(quán)律師事務(wù)所 11302 | 代理人: | 張曉冬 |
| 地址: | 450041 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顆粒 粒徑 分布 測量方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
1.一種顆粒粒徑分布的測量方法,其特征在于,所述方法包括:
對獲得的待測量顆粒圖像進(jìn)行顆粒輪廓提取以得到待分割圖像,所述待測量顆粒圖像中包含標(biāo)尺信息;
從所述待分割圖像中識(shí)別滿足預(yù)設(shè)要求的輪廓區(qū)域,作為大顆粒區(qū)域,并對所述大顆粒區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記;
對所述待分割圖像中未被標(biāo)記的輪廓區(qū)域進(jìn)行輪廓分割以得到顆粒輪廓圖像;
基于所述標(biāo)尺信息和所述顆粒輪廓圖像測量顆粒的粒徑分布。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述對獲得的待測量顆粒圖像進(jìn)行顆粒輪廓提取以得到待分割圖像之前,所述方法還包括:
獲取待標(biāo)定顆粒圖像;
對所述待標(biāo)定顆粒圖像進(jìn)行標(biāo)尺信息提取以得到標(biāo)定顆粒圖像;
去除所述標(biāo)定顆粒圖像中的底色背景以得到待測量顆粒圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述獲取待標(biāo)定顆粒圖像,包括:
獲取原始顆粒圖像;
將所述原始顆粒圖像轉(zhuǎn)換為單通道灰度圖像,作為待標(biāo)定顆粒圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述待標(biāo)定顆粒圖像進(jìn)行標(biāo)尺信息提取以得到標(biāo)定顆粒圖像,包括:
識(shí)別所述待標(biāo)定顆粒圖像中的字符區(qū)域;
對所述字符區(qū)域中存在的字符進(jìn)行提取和識(shí)別以得到所述待標(biāo)定顆粒圖像的標(biāo)尺信息;
將得到標(biāo)尺信息的待標(biāo)定顆粒圖像作為標(biāo)定顆粒圖像。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對獲得的待測量顆粒圖像進(jìn)行顆粒輪廓提取以得到待分割圖像,包括:
對獲得的待測量顆粒圖像進(jìn)行去噪處理以得到第一顆粒圖像;
采用遞歸實(shí)現(xiàn)的濾波器對所述第一顆粒圖像進(jìn)行輪廓提取以得到第二顆粒圖像;
依次對所述第二顆粒圖像進(jìn)行噪點(diǎn)去除和開閉運(yùn)算以得到待分割圖像。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述標(biāo)尺信息和所述顆粒輪廓圖像測量顆粒的粒徑分布,包括:
對所述顆粒輪廓圖像中的各個(gè)輪廓進(jìn)行幾何擬合;
從擬合得到的幾何圖形中提取顆粒的初始粒徑特征;
通過所述標(biāo)尺信息將所述初始粒徑特征轉(zhuǎn)化為實(shí)際粒徑特征;
根據(jù)所述實(shí)際粒徑特征確定顆粒的粒徑分布。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述對所述顆粒輪廓圖像中的各個(gè)輪廓進(jìn)行幾何擬合,包括:
對所述顆粒輪廓圖像中的各個(gè)輪廓進(jìn)行圓擬合;
將所述各個(gè)輪廓中未被擬合為圓的輪廓進(jìn)行橢圓擬合。
8.一種顆粒粒徑分布的測量裝置,其特征在于,所述裝置包括:
輪廓提取單元,用于對獲得的待測量顆粒圖像進(jìn)行顆粒輪廓提取以得到待分割圖像,所述待測量顆粒圖像中包含標(biāo)尺信息;
標(biāo)記單元,用于從所述待分割圖像中識(shí)別滿足預(yù)設(shè)要求的輪廓區(qū)域,作為大顆粒區(qū)域,并對所述大顆粒區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記;
分割單元,用于對所述待分割圖像中未被標(biāo)記的輪廓區(qū)域進(jìn)行輪廓分割以得到顆粒輪廓圖像;
測量單元,用于基于所述標(biāo)尺信息和所述顆粒輪廓圖像測量顆粒的粒徑分布。
9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一條程序代碼,所述至少一條程序代碼由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法所執(zhí)行的操作。
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括一個(gè)或多個(gè)處理器和一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器,所述一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有至少一條程序代碼,所述至少一條程序代碼由所述一個(gè)或多個(gè)處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法。
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