[發(fā)明專利]一種注射液與包材相容性檢測方法及微流控檢測系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310606220.8
• 申請日: 2023-05-26
• 公開（公告）號: CN116618102A
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 崔龍;楊雪梅;王志偉;徐志丹
• 申請（專利權(quán)）人: 通化創(chuàng)優(yōu)檢測服務(wù)有限公司
• 主分類號: B01L3/00
• 分類號: B01L3/00;G01N27/416;G01N21/65;G01N21/64;G01N27/28;F17D3/01
• 代理公司: 西安匯恩知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61244
• 代理人: 張偉花

1.一種微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：包括片式微流控片、電極模組、蓋板，所述片式微流控片與所述電極模組黏接密封，形成腔室，所述片式微流控片與所述蓋板抵接；

所述片式微流控片包括組件：若干測試分區(qū)、若干片式磁體，所述若干測試分區(qū)對稱分布，每一所述若干測試分區(qū)包括若干測試單元、進(jìn)液通道及加液槽；

所述若干測試單元通過所述進(jìn)液通道與所述加液槽連通；

所述若干片式磁體對稱分布在所述片式微流控片的非測試區(qū)，所述若干片式磁體通過變化的磁力在Z軸方向?qū)⒚恳凰銎轿⒘骺仄M(jìn)行拼接；

所述片式微流控片通過所述若干片式磁體在Z軸方向拼接形成所述加液槽及所述若干測試單元的所述腔室；

所述電極模組包括測試電極，所述測試電極伸進(jìn)所述片式微流控片在Z軸方向拼接形成的所述腔室、所述加液槽；

所述蓋板可遮蓋并抵接所述加液槽。

2.如權(quán)利要求1所述微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述若干測試單元包括若干測試單元反應(yīng)組、與每一組所述若干測試單元反應(yīng)組一一對應(yīng)的所述進(jìn)液通道，所述若干測試單元反應(yīng)組通過所述進(jìn)液通道與所述加液槽連通；

所述若干測試單元反應(yīng)組含若干腔室，所述若干腔室通過所述進(jìn)液通道與所述加液槽連通；

所述若干測試單元反應(yīng)組在反應(yīng)組與反應(yīng)組之間的所述若干腔室可通過所述進(jìn)液通道一一連通。

3.如權(quán)利要求2所述微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述若干測試單元通過所述進(jìn)液通道與測試分區(qū)分液槽連通，所述測試分區(qū)分液槽連通與所述加液槽及所述若干測試單元反應(yīng)組的所述進(jìn)液通道連通；

所述測試分區(qū)分液槽連通所述若干測試單元反應(yīng)組的若干腔室；

所述測試電極伸進(jìn)所述測試分區(qū)分液槽及若干腔室。

4.如權(quán)利要求2所述微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：每一所述若干測試分區(qū)包括若干分區(qū)磁體，所述若干分區(qū)磁體對稱分布在所述若干測試單元的非測試區(qū)及非通道區(qū)，所述若干分區(qū)磁體通過變化的磁力在Z軸方向?qū)⒚恳凰鋈舾蓽y試分區(qū)進(jìn)行拼接；

所述若干測試單元包括若干單元磁體，所述單元磁體對稱分布在所述若干測試單元的非測試區(qū)及非通道區(qū)，和所述單元磁體通過變化的磁力在Z軸方向?qū)⒚恳凰鋈舾蓽y試單元進(jìn)行拼接。

5.如權(quán)利要求1所述微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述進(jìn)液通道的側(cè)壁設(shè)置有若干極片，所述若干極片彼此相對一一對應(yīng)。

6.如權(quán)利要求1所述微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：在Z軸方向拼接所述片式微流控片，所述電極模組黏接在Z軸方向的最外兩層，封閉所述片式微流控片；

在Z軸方向拼接所述片式微流控片，所述電極模組黏接在Z軸方向的最外一層，另一面黏接有光學(xué)鏡片模組。

7.如權(quán)利要求1所述微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：所述蓋板包括旋轉(zhuǎn)旋鈕、連接臂、擋片，所述旋轉(zhuǎn)旋鈕可通過所述連接臂調(diào)整所述擋片做圓周運(yùn)動，所述擋片可遮蓋并抵接所述加液槽。

8.如權(quán)利要求1所述微流控檢測系統(tǒng)，其特征在于：提供在Z軸拼接所述片式微流控片形成的微流控芯片、MCU、電源，所述電源導(dǎo)通MCU，所述MCU用于控制所述微流控芯片的所述測試電極的電壓、電極極性參數(shù)，控制進(jìn)液的流速、液滴尺寸、液滴流向及反應(yīng)時長。