[發明專利]鍍層表面晶花品質數據確定方法、裝置、電子設備及介質

在審

• 申請號: 202310600196.7
• 申請日: 2023-05-25
• 公開（公告）號: CN116542957A
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發明（設計）人: 許秀飛
• 申請（專利權）人: 中冶賽迪上海工程技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/60;G06T5/50
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 張雙鳳

本發明提出的一種鍍層表面晶花品質數據確定方法、裝置、電子設備及介質，該方法通過將多張在不同光照狀態下采集的鍍層表面的初始表面圖像進行融合，對得到的融合圖像進行識別，得到該鍍層表面的晶花和每一晶花的初始晶花大小，進而確定晶花均勻程度和晶花表征尺寸，基于晶花數量、晶花均勻程度和晶花表征尺寸中至少之一生成晶花品質數據；上述方式提供了一種自動化的晶花品質數據確定方式，不需要人工進行計數，降低了人工勞動強度，提升了晶花品質數據確定的準確度，確定速度快，成本低，能夠滿足連續生產線大規模工業化生產的需要。

技術領域

本發明涉及圖像識別技術領域，尤其涉及一種鍍層表面晶花品質數據確定方法、裝置、電子設備及介質。

背景技術

鋼鐵行業的鍍鋅、鍍鋅鋁合金、鍍鋁鋅合金、鍍鋅鋁鎂合金等鍍層板是加工深度較深的產品之一。這一類產品往往對表面質量要求很高，具體而言，這類產品往往對鍍層表面結晶所形成的晶花尺寸大小也有較高的要求。

目前對于晶花的晶花尺寸大小的確定通常只能采用人工進行檢查，即在鍍鋅板等鍍層表面抽取某一區域，畫一個尺寸為一定規格的形狀作為樣本區域，通過人工進行計數的方法，人工數樣本區域有多少個晶花，再用樣本區域的面積去除晶花的個數得到晶花的平均面積，并進一步換算成晶花的平均直徑。

顯然，上述提供的人工計數的方法不但勞動強度大，而且精確度低，消耗的時間長，成本高，不能滿足連續生產線大規模工業化生產的需要。

發明內容

本發明提供一種鍍層表面晶花品質數據確定方法、裝置、電子設備及介質，以解決人工計數的方法勞動強度大，精確度低，消耗時間長，成本高，不能滿足連續生產線大規模工業化生產的需要的技術問題。

本發明提供的一種鍍層表面晶花品質數據確定方法，所述方法包括：獲取待識別鍍層表面的多張初始表面圖像，其中，各所述初始表面圖像采集時的光照狀態不同；將多張初始表面圖像進行圖像融合，得到融合圖像；識別所述融合圖像中的每一晶花，并確定各所述晶花的初始晶花大小；根據全部晶花的初始晶花大小的差異情況確定晶花均勻程度和晶花表征尺寸；基于所述晶花均勻程度、所述晶花表征尺寸和晶花數量中至少之一確定所述待識別鍍層表面的晶花品質數據，所述晶花數量為識別到所述融合圖像中的晶花的數量。

于本發明一實施例中，獲取待識別鍍層表面的多張初始表面圖像之前，所述方法還包括：多次調整發光裝置相對于所述待識別鍍層表面的第一相對位置，以調整所述初始表面圖像采集時的光照狀態，所述發光裝置用于為所述待識別鍍層表面提供光照；每一次完成所述發光裝置的第一相對位置的調整后，采集得到一張初始表面圖像。

于本發明一實施例中，獲取待識別鍍層表面的多張初始表面圖像之前，所述方法還包括：多次控制所述待識別鍍層表面進行平面旋轉，以調整所述初始表面圖像采集時的光照狀態；每一次完成平面旋轉后，通過圖像采集裝置采集得到一張初始表面圖像，所述圖像采集裝置與所述待識別鍍層表面的第二相對位置保持不變。

于本發明一實施例中，將多張初始表面圖像進行圖像融合，得到融合圖像，包括：提取每一初始表面圖像中各晶花的樹枝晶特征圖像，得到每一晶花的多個初始樹枝晶特征圖像；將一晶花的多個初始樹枝晶特征圖像進行融合，得到所述一晶花的清晰樹枝晶特征圖像；將包括有全部晶花的清晰樹枝晶特征圖像確定為融合圖像。

于本發明一實施例中，識別所述融合圖像中的每一晶花，并確定各所述晶花的初始晶花大小，包括：將所述融合圖像輸入晶花識別模型中，得到識別結果，所述識別結果包括所述融合圖像中每一晶花的晶花位置和初始晶花大小；其中，所述晶花識別模型的訓練方式包括，獲取多個樣本晶花數據，所述樣本晶花數據包括樣本晶花圖像、樣本晶花圖像中的晶花標注位置、以及晶花標注大小；以多個樣本晶花數據對預設基礎模型進行訓練，直至預設基礎模型收斂，將訓練后的預設基礎模型作為晶花識別模型。

于本發明一實施例中，所述晶花表征尺寸包括全部晶花的初始晶花大小的平均大小、眾數大小和中位數大小中任意之一。