[發明專利]一種老化測試方法及老化測試系統

在審

• 申請號: 202310564868.3
• 申請日: 2023-05-18
• 公開（公告）號: CN116577585A
• 公開（公告）日: 2023-08-11
• 發明（設計）人: 李毅;黎陽;陳凱;張振興;劉劍
• 申請（專利權）人: 西安西電高壓開關有限責任公司;中國西電電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 駱文欣

本發明公開一種老化測試方法及老化測試系統。本發明實施例提供的老化測試方法應用于老化測試系統；該方法包括：基于老化測試系統，將至少兩個功率模塊接入老化測試系統并控制功率模塊運行；基于搭建的老化測試系統，對功率模塊的至少兩種部件進行老化測試，生成測試結果；測試完成后，將功率模塊切出。本發明實施例的技術方案通過搭建老化測試系統并接入至少兩個功率模塊，從而對功率模塊的至少兩種部件進行老化測試。本發明實施例的技術方案實現了一次性對多個功率模塊的多種部件進行老化測試，節省了操作時間和測試成本。

技術領域

本發明涉及老化測試技術領域，尤其涉及一種老化測試方法及老化測試系統。

背景技術

電力電子變換器由多個功率模塊組成，在設備出廠前，需要對功率模塊進行額定功率老化試驗，通過對功率模塊各個器件的檢測，以保證出廠設備的可靠性。而現有的老化測試方法通常只能對一臺功率模塊進行測試，耗電量高且效率較低；若對多個功率模塊進行測試，則一次只能測試功率模塊內的一個部件。因此亟需一種控制簡單、耗電較少且測試完整度較高的方法來進行老化測試。

發明內容

本發明提供了一種老化測試方法及老化測試系統，以解決現有的老化測試方法耗電量高、效率較低和測試完整度較低的問題。

根據本發明的一方面，提供了一種老化測試方法，應用于老化測試系統；所述方法，包括：

基于老化測試系統，將至少兩個功率模塊接入所述老化測試系統并控制所述功率模塊運行；

基于搭建的所述老化測試系統，對所述功率模塊的至少兩種部件進行老化測試，生成測試結果；

測試完成后，將所述功率模塊切出。

可選的，所述老化測試系統包括電抗器、斷路器和恒壓直流電源，所述恒壓直流電源與所述功率模塊的輸入端連接；所述功率模塊的輸出端與所述電抗器和所述斷路器連接；

所述基于老化測試系統，將至少兩個所述功率模塊接入所述老化測試系統并控制所述功率模塊運行，包括：

將至少兩個所述功率模塊的所述輸入端并聯并與所述恒壓直流電源的輸出端連接；

將至少兩個所述功率模塊的所述輸出端串聯，并與所述電抗器和所述斷路器串聯連接；

通過所述恒壓直流電源輸出額定電壓信號，驅動所述功率模塊運行。

可選的，所述功率模塊包括雙主動橋和級聯H橋，所述雙主動橋與所述級聯H橋連接，所述雙主動橋與所述恒壓直流電源連接；

所述通過所述恒壓直流電源輸出額定電壓信號，驅動所述功率模塊運行，包括：

將所述雙主動橋解鎖，并調節所述雙主動橋的移相角直至所述功率模塊輸出額定電壓；

將所述斷路器合閘；

將所述級聯H橋解鎖，并調節所述級聯H橋的相位差直至所述功率模塊輸出額定電流。

可選的，所述老化測試系統，還包括：至少兩個旁路開關，所述旁路開關與所述功率模塊的輸出端連接；

在所述恒壓直流電源輸出額定電壓信號，驅動所述功率模塊運行之前，還包括：

控制所述旁路開關的導通狀態，以調節所述功率模塊的切入的數量；其中，所述功率模塊的數量為偶數。

可選的，所述基于搭建的所述老化測試系統，對所述功率模塊的至少兩種部件進行老化測試，生成測試結果，包括：

控制所述功率模塊運行預設時間；

獲取所述功率模塊的雙主動橋的第一溫度信息，根據所述第一溫度信息，基于第一預設閾值，確定所述功率模塊的所述雙主動橋的老化測試結果；