[發明專利]一種老化測試方法及老化測試系統

在審

• 申請號: 202310564868.3
• 申請日: 2023-05-18
• 公開（公告）號: CN116577585A
• 公開（公告）日: 2023-08-11
• 發明（設計）人: 李毅;黎陽;陳凱;張振興;劉劍
• 申請（專利權）人: 西安西電高壓開關有限責任公司;中國西電電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 駱文欣

1.一種老化測試方法，其特征在于，所述老化測試方法應用于老化測試系統；所述方法，包括：

基于老化測試系統，將至少兩個功率模塊接入所述老化測試系統并控制所述功率模塊運行；

基于搭建的所述老化測試系統，對所述功率模塊的至少兩種部件進行老化測試，生成測試結果；

測試完成后，將所述功率模塊切出。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述老化測試系統包括電抗器、斷路器和恒壓直流電源，所述恒壓直流電源與所述功率模塊的輸入端連接；所述功率模塊的輸出端與所述電抗器和所述斷路器連接；

所述基于老化測試系統，將至少兩個所述功率模塊接入所述老化測試系統并控制所述功率模塊運行，包括：

將至少兩個所述功率模塊的所述輸入端并聯并與所述恒壓直流電源的輸出端連接；

將至少兩個所述功率模塊的所述輸出端串聯，并與所述電抗器和所述斷路器串聯連接；

通過所述恒壓直流電源輸出額定電壓信號，驅動所述功率模塊運行。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述功率模塊包括雙主動橋和級聯H橋，所述雙主動橋與所述級聯H橋連接，所述雙主動橋與所述恒壓直流電源連接；

所述通過所述恒壓直流電源輸出額定電壓信號，驅動所述功率模塊運行，包括：

將所述雙主動橋解鎖，并調節所述雙主動橋的移相角直至所述功率模塊輸出額定電壓；

將所述斷路器合閘；

將所述級聯H橋解鎖，并調節所述級聯H橋的相位差直至所述功率模塊輸出額定電流。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述老化測試系統，還包括：至少兩個旁路開關，所述旁路開關與所述功率模塊的輸出端連接；

在所述恒壓直流電源輸出額定電壓信號，驅動所述功率模塊運行之前，還包括：

控制所述旁路開關的導通狀態，以調節所述功率模塊的切入的數量；其中，所述功率模塊的數量為偶數。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于搭建的所述老化測試系統，對所述功率模塊的至少兩種部件進行老化測試，生成測試結果，包括：

控制所述功率模塊運行預設時間；

獲取所述功率模塊的雙主動橋的第一溫度信息，根據所述第一溫度信息，基于第一預設閾值，確定所述功率模塊的所述雙主動橋的老化測試結果；

獲取所述功率模塊的級聯H橋的第二溫度信息，根據所述第二溫度信息，基于第二預設閾值，確定所述功率模塊的所述級聯H橋的老化測試結果。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于搭建的所述老化測試系統，對所述功率模塊的至少兩種部件進行老化測試，生成測試結果，還包括：

獲取所述功率模塊的旁路開關的導通狀態信息，根據所述旁路開關的所述導通狀態信息，確定所述旁路開關的測試結果。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一溫度信息，基于第一預設閾值，確定所述功率模塊的所述雙主動橋的老化測試結果，包括：

將所述第一溫度信息并與第一預設閾值進行比較，生成比較結果；

若所述第一溫度信息小于或等于所述第一預設閾值，則所述雙主動橋的老化測試結果合格。

8.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述第二溫度信息，基于第二預設閾值，確定所述功率模塊的所述級聯H橋的老化測試結果，包括：

將所述第二溫度信息并與第二預設閾值進行比較，生成比較結果；

若所述第二溫度信息小于或等于所述第二預設閾值，則所述級聯H橋的老化測試結果合格。

9.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述測試完成后，將所述功率模塊切出，包括：

減小所述功率模塊的級聯H橋的相位差直至為零，閉鎖所述級聯H橋；

將所述老化測試系統的斷路器分閘；

減小所述功率模塊的雙主動橋的移相角直至為零，閉鎖所述雙主動橋；

關閉所述恒壓直流電源。

10.一種老化測試系統，其特征在于，所述老化測試系統用于執行權利要求1至9任一項所述老化測試方法；所述老化測試系統，包括：

接入模塊，用于基于老化測試系統，將至少兩個所述功率模塊接入所述老化測試系統并控制所述功率模塊運行；

測試模塊，用于基于搭建的所述老化測試系統，對所述功率模塊的至少兩種部件進行老化測試，生成測試結果；

切出模塊，用于測試完成后，將所述功率模塊切出。