[發明專利]內核性能驗證方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202310546107.5
• 申請日: 2023-05-15
• 公開（公告）號: CN116560962A
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 李力昭
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/34
• 分類號: G06F11/34;G06F11/36
• 代理公司: 上海知錦知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31327
• 代理人: 曹守彬;李麗

本發明實施例提供一種內核性能驗證方法、裝置、電子設備及存儲介質，其中，所述方法，包括：獲取用目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值；元數據與內核性能驗證需求相關；基于目標測試用例組的元數據和性能配置值，確定目標測試用例組的目標理論值；根據目標理論值和目標測試用例組的各個測試用例所對應的測試結果文件，獲取目標測量值；對目標理論值和目標測量值進行比較，得到內核性能驗證結果。本發明實施例所提供的技術方案，通過基于測試用例與內核性能驗證進行分層處理，可以系統化驗證芯片設計的內核性能，提升內核性能驗證的準確性和便捷性。

技術領域

本申請實施例涉及芯片設計驗證技術領域，具體涉及一種內核性能驗證方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

性能驗證在芯片設計的前端驗證中占據很重要的地位。性能驗證通過計算芯片設計的理論性能值，并將計算得到的理論值與基于芯片設計的仿真測試結果中提取到的相對應的測量值進行對比來實現。芯片設計的內核(core)是芯片設計處理數據的核心，因此如何提供技術方案，以系統化驗證芯片設計的內核性能，提升內核性能驗證的準確性和便捷性，成為了本領域技術人員亟需解決的技術問題。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供一種內核性能驗證方法、裝置、電子設備及存儲介質，以系統化驗證芯片設計的內核性能，提升內核性能驗證的準確性和便捷性。

為實現上述目的，本發明實施例提供如下技術方案。

第一方面，本發明實施例提供一種內核性能驗證方法，包括：

獲取目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值；所述目標測試用例組的元數據與內核性能驗證需求相關；

基于所述目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值，確定所述目標測試用例組的各個測試用例的目標理論值；以及，根據所述目標理論值和所述目標測試用例組的各個測試用例所對應的測試結果文件，獲取各個測試用例的目標測量值；

對所述目標理論值和所述目標測量值進行比較，得到所述目標測試用例組的各個測試用例的內核性能驗證結果。

第二方面，本發明實施例提供一種內核性能驗證裝置，包括：

測試用例性能模塊，用于獲取目標測試用例組的元數據；所述目標測試用例組的元數據與內核性能驗證需求相關；

內核性能模塊，包括理論值確定模塊、測量值獲取模塊和性能驗證模塊；其中，所述理論值確定模塊，用于基于所述目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值，確定所述目標測試用例組的各個測試用例的目標理論值；

所述測量值獲取模塊，用于根據所述目標理論值和所述目標測試用例組的各個測試用例所對應的測試結果文件，獲取各個測試用例的目標測量值；

所述性能驗證模塊，用于對所述目標理論值和所述目標測量值進行比較，得到所述目標測試用例組的各個測試用例的內核性能驗證結果。

第三方面，本發明實施例還提供了一種電子設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有程序，所述處理器調用所述存儲器中存儲的程序，執行如第一方面所述的內核性能驗證方法。

第四方面，本發明實施例還提供了一種存儲介質，所述存儲介質存儲有程序，所述程序被執行時實現如第一方面所述的內核性能驗證方法。