[發明專利]內核性能驗證方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202310546107.5
• 申請日: 2023-05-15
• 公開（公告）號: CN116560962A
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 李力昭
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/34
• 分類號: G06F11/34;G06F11/36
• 代理公司: 上海知錦知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31327
• 代理人: 曹守彬;李麗

1.一種內核性能驗證方法，其特征在于，包括：

獲取目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值；所述目標測試用例組的元數據與內核性能驗證需求相關；

基于所述目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值，確定所述目標測試用例組的各個測試用例的目標理論值；以及，根據所述目標理論值和所述目標測試用例組的各個測試用例所對應的測試結果文件，獲取各個測試用例的目標測量值；

對所述目標理論值和所述目標測量值進行比較，得到所述目標測試用例組的各個測試用例的內核性能驗證結果。

2.如權利要求1所述的內核性能驗證方法，其特征在于，所述基于所述目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值，確定所述目標測試用例組的各個測試用例的目標理論值，包括：

基于所述目標測試用例組的元數據和所述目標測試用例組的性能配置值，獲取所述目標測試用例組的各個測試用例中，各個子對象所對應的性能值；所述子對象基于設置測試用例組時對應的內核功能確定；

在各個所述性能值中確定目標性能值為所述目標測試用例組的各個測試用例所對應的目標理論值。

3.如權利要求2所述的內核性能驗證方法，其特征在于，所述根據所述目標理論值和所述目標測試用例組的各個測試用例所對應的測試結果文件，獲取各個測試用例的目標測量值，包括：

獲取所述目標理論值對應的子對象，得到瓶頸值；

根據所述瓶頸值確定針對于所述子對象的測試用例所對應的測試結果文件，得到目標測試結果文件；

基于所述目標測試結果文件獲取目標測量值。

4.如權利要求3所述的內核性能驗證方法，其特征在于，所述基于所述目標測試結果文件獲取目標測量值，包括：

獲取所述目標測試結果文件對應的至少一個測量算法；

基于設定算法標識在至少一個所述測量算法中確定目標測量算法，利用所述目標測量算法對所述目標測試結果文件進行計算，得到所述目標測量值。

5.如權利要求4所述的內核性能驗證方法，其特征在于，在所述獲取所述目標測試結果文件對應的至少一個測量算法的步驟之后，還包括：

利用各個所述測量算法對所述目標測試結果文件進行計算，得到多個測量值，并將多個所述測量值進行展示。

6.如權利要求5所述的內核性能驗證方法，其特征在于，所述對所述目標理論值和所述目標測量值進行比較，得到所述目標測試用例組的各個測試用例的內核性能驗證結果，包括：

當所述目標測量值與所述目標理論值的比值達到設定百分比時，得到所述目標測試用例組的各個測試用例的內核性能驗證結果為測試通過；所述設定百分比基于所述目標測量值和所述目標理論值對應的測試用例的類型確定。

7.如權利要求1-6任一項所述的內核性能驗證方法，其特征在于，所述獲取所述目標測試用例組的性能配置值，包括：

獲取根據所述內核對應的芯片的設計需求設置的項目配置文件，所述項目配置文件所記錄的項目名稱與所述測試用例組的名稱對應，所述芯片的設計需求包含內核功能；

根據所述項目配置文件獲取所述目標測試用例組的性能配置值。

8.如權利要求7所述的內核性能驗證方法，其特征在于，還包括：

獲取根據所述內核對應的芯片驗證需求建立的應用集；根據所述應用集獲取測量算法，以對測試結果文件進行計算；所述芯片驗證需求包括性能驗證需求和功能驗證需求，所述性能驗證需求包括所述內核性能驗證需求。

9.如權利要求1-6任一項所述的內核性能驗證方法，其特征在于，所述目標測試用例組的各個測試用例基于內核性能驗證需求對應的內核功能進行設置。

10.如權利要求9所述的內核性能驗證方法，其特征在于，所述獲取目標測試用例組的元數據和目標測試用例組的性能配置值的步驟之前，還包括：

獲取測試用例組列表，所述測試用例組列表包含各個所述測試用例組，用于提供目標測試用例組。