[發明專利]半導體元件及其制作方法在審
| 申請號: | 202310488305.0 | 申請日: | 2018-10-08 |
| 公開(公告)號: | CN116583165A | 公開(公告)日: | 2023-08-11 |
| 發明(設計)人: | 陳禹鈞;馮雅圣;邱久容;林宏展 | 申請(專利權)人: | 聯華電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H10N50/10 | 分類號: | H10N50/10;H10N50/01;G11C11/16 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 王銳 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 元件 及其 制作方法 | ||
本發明公開一種半導體元件及其制作方法,該半導體元件主要包含一磁性隧穿接面(magnetic?tunneling?junction,MTJ)設于一基底上,一第一間隙壁設于MTJ一側以及一第二間隙壁設于MTJ另一側,其中第一間隙壁及第二間隙壁為不對稱結構。更具體而言,MTJ又細部包含一第一下電極設于一金屬內連線上、一阻障層設于下電極上以及一上電極設于阻障層上,其中第一間隙壁上表面切齊該上電極上表面,且第二間隙壁上表面低于該上電極上表面并高于該阻障層上表面。
本申請是中國發明專利申請(申請號:201811166521.9,申請日:2018年10月08日,發明名稱:半導體元件及其制作方法)的分案申請。
技術領域
本發明涉及一種半導體元件及其制作方法,尤其是涉及一種磁阻式隨機存取存儲器(Magnetoresistive?Random?Access?Memory,MRAM)及其制作方法。
背景技術
已知,磁阻(magnetoresistance,MR)效應是材料的電阻隨著外加磁場的變化而改變的效應,其物理量的定義,是在有無磁場下的電阻差除上原先電阻,用以代表電阻變化率。目前,磁阻效應已被成功地運用在硬盤生產上,具有重要的商業應用價值。此外,利用巨磁電阻物質在不同的磁化狀態下具有不同電阻值的特點,還可以制成磁性隨機存儲器(MRAM),其優點是在不通電的情況下可以繼續保留存儲的數據。
上述磁阻效應還被應用在磁場感測(magnetic?field?sensor)領域,例如,移動電話中搭配全球定位系統(global?positioning?system,GPS)的電子羅盤(electroniccompass)零組件,用來提供使用者移動方位等信息。目前,市場上已有各式的磁場感測技術,例如,各向異性磁阻(anisotropic?magnetoresistance,AMR)感測元件、巨磁阻(GMR)感測元件、磁隧穿接面(magnetic?tunneling?junction,MTJ)感測元件等等。然而,上述現有技術的缺點通常包括:較占芯片面積、制作工藝較昂貴、較耗電、靈敏度不足,以及易受溫度變化影響等等,而有必要進一步改進。
發明內容
本發明一實施例揭露一種半導體元件,其主要包含一磁性隧穿接面(magnetictunneling?junction,MTJ)設于一基底上,一第一間隙壁設于MTJ一側以及一第二間隙壁設于MTJ另一側,其中該第一間隙壁及該第二間隙壁為不對稱結構。更具體而言,MTJ又細部包含一第一下電極設于一金屬內連線上、一阻障層設于下電極上以及一上電極設于阻障層上,其中第一間隙壁上表面切齊該上電極上表面,且第二間隙壁上表面低于該上電極上表面并高于該阻障層上表面。
本發明另一實施例揭露一種半導體元件,其包含一磁性隧穿接面(magnetictunneling?junction,MTJ)設于一基底上以及一金屬內連線設于該MTJ上,其中MTJ的一上視剖面包含一第一圓形,金屬內連線的一上視剖面包含一第二圓形重疊部分該第一圓形。此外未被第二圓形所重疊的部分第一圓形包含一第一新月形狀,且未重疊第一圓形的部分第二圓形包含一第二新月形狀。
附圖說明
圖1至圖6為本發明一實施例制作MRAM單元的方式示意圖;
圖7為本發明圖6實施例中MTJ以及金屬內連線重疊處的上視圖。
主要元件符號說明
12??????基底????????????????????14????MTJ區域
16??????邏輯區域????????????????18????層間介電層
20??????金屬內連線結構??????????22????金屬內連線結構
24??????金屬間介電層????????????26????金屬內連線
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