[發明專利]一種微波輻射計靈敏度的自動化測試系統及方法在審

申請號：	202310432445.6	申請日：	2023-04-21
公開（公告）號：	CN116500529A	公開（公告）日：	2023-07-28
發明（設計）人：	董克松;邢瑞先;繆鵬飛;何嘉愷;白川;姜麗菲;徐紅新	申請（專利權）人：	上海航天測控通信研究所
主分類號：	G01R35/00	分類號：	G01R35/00
代理公司：	上海漢聲知識產權代理有限公司 31236	代理人：	胡晶
地址：	201109 ***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種微波輻射計靈敏度自動化測試系統方法
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【說明書】：

本發明涉及微波無源遙感輻射計技術領域，提供了一種微波輻射計靈敏度自動化測試系統及方法，包括測試機構控制模塊、測試數據采集模塊、測試數據處理模塊。其中測試機構控制模塊用于移動微波輻射黑體，控制輻射黑體與微波輻射計饋源口面的相對位置關系；測試數據采集模塊用于獲取并存儲待測微波輻射計的輸出電壓以及輻射黑體溫度測量數據；測試數據處理模塊用于處理輻射黑體溫度及待測輻射計電壓數據，獲取待測輻射計的靈敏度。本發明通過自動化測試，可實現微波輻射計的靈敏度參數自動化測試，避免了手動操作對測試結果的影響，提高了測試效率；廣泛應用于各類微波輻射計的靈敏度測試，應用于微波輻射計的生產、研發等領域，具有一定的通用性。

技術領域

本發明涉及微波無源遙感輻射計技術領域，尤其涉及一種微波輻射計靈敏度的自動化測試系統及方法。

背景技術

隨著多通道一體化微波輻射探測技術發展，微波輻射計儀器對探測通道數量及探測精度的要求也越來越高，其中靈敏度參數是影響微波輻射計儀器精度的重要指標之一。工程研制過程中常用的微波輻射計靈敏度參數測試方法需要測試人員頻率搬運微波黑體，同時記錄溫度數據及待測微波輻射計輸出的電壓數據。因此，傳統的微波輻射計靈敏度測試系統不能滿足多通道一體化微波輻射計的測試需求，局限性主要在于：人為操作存在測試誤差，影響靈敏度測試精度，比如多次搬運過程中會導致黑體與待測微波輻射計相對位置發生變化，干擾靈敏度測試結果；除此之外人工操作步驟也相對繁瑣，測試效率低下。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種微波輻射計靈敏度的自動化測試系統及方法，提高微波輻射計靈敏度測試精度及效率，以解決現有人為操作存在測試誤差，影響靈敏度測試精度和測試效率低下的問題。

為解決上述問題，本發明的技術方案為：

一種微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，包括測試機構控制模塊、測試數據采集模塊和測試數據處理模塊；

所述測試機構控制模塊分別與輻射黑體和所述測試數據采集模塊電性連接，用于控制所述輻射黑體與待測微波輻射計饋源口面的相對位置關系；

所述測試數據采集模塊分別與所述輻射黑體、所述待測微波輻射計電性連接，獲取并存儲所述輻射黑體的溫度測量數據和獲取所述待測微波輻射計的輸出電壓數據；

所述測試數據處理模塊與所述測試數據采集模塊電性連接，用于處理所述溫度測量數據和所述輸出電壓數據，進而獲取待測輻射計的靈敏度。

進一步地，所述輻射黑體用于提供穩定的輻射亮溫信息，所述輻射黑體滿足普朗克輻射定律，物理溫度等于輻射亮溫。

進一步地，所述測試機構控制模塊，測量所述輻射黑體與所述待測微波輻射計的相對位置關系，并將所述相對位置關系的參數傳遞給所述測試數據采集模塊。

進一步地，所述測試機構控制模塊接收所述測試數據采集模塊的控制指令，調整所述輻射黑體的位置，以保證高溫輻射黑體、低溫輻射黑體與所述待測微波輻射計的所述相對位置關系相同。

進一步地，所述測試數據處理模塊，包含一個自研靈敏度計算軟件。

進一步地，所述自研靈敏度計算軟件讀取并自動化處理所述測試數據采集模塊發送的所述溫度測量數據和所述輸出電壓數據。