[發明專利]一種微波輻射計靈敏度的自動化測試系統及方法

在審

• 申請號: 202310432445.6
• 申請日: 2023-04-21
• 公開（公告）號: CN116500529A
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發明（設計）人: 董克松;邢瑞先;繆鵬飛;何嘉愷;白川;姜麗菲;徐紅新
• 申請（專利權）人: 上海航天測控通信研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

1.一種微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，包括測試機構控制模塊、測試數據采集模塊和測試數據處理模塊；

所述測試機構控制模塊分別與輻射黑體和所述測試數據采集模塊電性連接，用于控制所述輻射黑體與待測微波輻射計饋源口面的相對位置關系；

所述測試數據采集模塊分別與所述輻射黑體、所述待測微波輻射計電性連接，獲取并存儲所述輻射黑體的溫度測量數據和獲取所述待測微波輻射計的輸出電壓數據；

所述測試數據處理模塊與所述測試數據采集模塊電性連接，用于處理所述溫度測量數據和所述輸出電壓數據，進而獲取待測輻射計的靈敏度。

2.由權利要求1所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，所述輻射黑體用于提供穩定的輻射亮溫信息。

3.由權利要求2所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，所述輻射黑體滿足普朗克輻射定律，物理溫度等于輻射亮溫。

4.由權利要求3所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，所述測試機構控制模塊，測量所述輻射黑體與所述待測微波輻射計的相對位置關系，并將所述相對位置關系的參數傳遞給所述測試數據采集模塊。

5.由權利要求4所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，所述測試機構控制模塊接收所述測試數據采集模塊的控制指令，調整所述輻射黑體的位置，以保證高溫輻射黑體、低溫輻射黑體與所述待測微波輻射計的所述相對位置關系相同。

6.由權利要求1所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，所述測試數據處理模塊，包含一個自研靈敏度計算軟件。

7.由權利要求6所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，所述自研靈敏度計算軟件讀取并自動化處理所述測試數據采集模塊發送的所述溫度測量數據和所述輸出電壓數據。

8.由權利要求7所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試系統，其特征在于，所述自研靈敏度計算軟件設置靈敏度計算方法，通過處理后的數據計算最終自動生成靈敏度測試結果及關鍵參數文件。

9.一種微波輻射計靈敏度的自動化測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：將待測微波輻射計對準高溫輻射黑體，等所述待測微波輻射計輸出電壓穩定，同時確認所述高溫輻射黑體與所述待測微波輻射計的接收喇叭的相對位置關系；

S2：所述待測微波輻射計輸出電壓穩定后，連續觀測所述高溫輻射黑體，通過測試數據采集模塊獲取所述高溫輻射黑體的觀測電壓數據，同時記錄所述高溫輻射黑體的溫度測量數據；

S3：根據步驟S1確認的所述相對位置關系，通過測試機構控制模塊將所述高溫輻射黑體換成低溫輻射黑體，保證所述低溫輻射黑體與所述待測微波輻射計的所述接收喇叭的相對位置與所述高溫輻射黑體相同；

S4：利用所述測試數據采集模塊獲取所述低溫輻射黑體觀測所述輸出電壓數據，同時記錄所述低溫輻射黑體的溫度測量數據；

S5：選擇靈敏度計算方法，利用所述測試數據處理模塊自動計算所述待測微波輻射計的靈敏度。

10.由權利要求9所述的微波輻射計靈敏度的自動化測試方法，其特征在于，所述靈敏度的計算方法包括均方根和Allan標準差表征靈敏度。