[發明專利]一種測試例庫生成方法、系統、設備及介質

在審

• 申請號: 202310418810.8
• 申請日: 2023-04-14
• 公開（公告）號: CN116401171A
• 公開（公告）日: 2023-07-07
• 發明（設計）人: 王凱;符云越;劉凱
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京連和連知識產權代理有限公司 11278
• 代理人: 張元;馬鵬林

本發明屬于計算機領域，具體涉及一種測試例庫生成方法、系統、設備及介質。其中方法包括：基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽；對于具體的測試芯片根據所述基礎測試標簽對每個基礎測試標簽分別生成關于所述測試芯片的多個子測試標簽；將多個基礎測試標簽對應的子測試標簽進行排列組合形成基本測試用例庫。通過本發明提出一種測試例庫生成方法，根據芯片系統驗證階段的驗證特劃分四大標簽類。基于每個標簽類基于具體的測試芯片進行實例化為多個子標簽，即sequence。并將每個標簽類的子標簽進行組合快速形成多個sequence組成測試用例庫。可快速實現對測試芯片的測試用例庫的生成。

技術領域

本發明屬于計算機領域，具體涉及一種測試例庫生成方法、系統、設備及介質。

背景技術

在芯片驗證領域，尤其在芯片驗證方法學、寄存器模型及網表寄存器正確性判定方面，UVM(Universal?Verification?Methodology，通用驗證方法學)是一個以SystemVerilog類庫為主體的驗證平臺開發框架，驗證工程師可以利用其可重用組件構建具有標準化層次結構和接口的功能驗證環境。具有速度快、效率高、靈活穩定、集成度高等優點，所以在硬件邏輯驗證與設計中是十分必要的。系統測試用例指的是芯片系統驗證階段使用的測試用例，利用UVM的集合特性，將所有系統驗證階段的測試用例集合在一起，形成一個測試用例庫；使用此方式生成的測試用例庫，只能順序或亂序隨機抽取庫內的測試用例用于系統驗證，這是由于UVM沒有提供復雜的用例庫調用策略及調用方法。傳統的UVM測試例庫的使用上存在流程繁瑣，實施困難等問題。

因此，亟需一種有效的方法來解決上述問題。

發明內容

為解決上述問題，本發明提出一種測試例庫生成方法，包括：

基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽；

對于具體的測試芯片根據所述基礎測試標簽對每個基礎測試標簽分別生成關于所述測試芯片的多個子測試標簽；

將多個基礎測試標簽對應的子測試標簽進行排列組合形成基本測試用例庫。

在本發明的一些實施方式中，基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽包括：

基于處理器的工作模式生成關于處理器工作模式的基礎測試標簽；

基于處理器的運行速率生成關于處理器速率的基礎測試標簽。

在本發明的一些實施方式中，基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽包括：

基于處理器上的對應的功能的子系統生成對應的子系統基礎測試標簽；

基于處理器通用的基礎模塊生成對應的基礎配置測試標簽。

在本發明的一些實施方式中，對于具體的測試芯片根據所述基礎測試標簽對每個基礎測試標簽分別生成關于所述測試芯片的多個子測試標簽包括：

對于確定的測試芯片根據操作系統在所述測試芯片上對應的工作模式，并基于所述處理器工作模式的基礎測試標簽生成多種工作模式的處理工作模式子測試標簽；

根據所述測試芯片運行頻率生成多個關于所述測試芯片的處理器速率的子測試標簽；

根據所述測試芯片中具有的對應的功能子系統生成多個對應的子系統基礎測試的子標簽；

根據所述測試芯片中具有的基礎模塊生成對應的基礎配置的測試子標簽。

在本發明的一些實施方式中，將多個基礎測試標簽對應的子測試標簽進行排列組合形成基本測試用例庫包括：

從每個基礎測試標簽分類下的多個子測試標簽中選擇一個子測試標簽與其他基礎測試標簽分類下對應的子測試標簽組成基本測試用例，并將基本測試用例添加到基本測試用例庫。