[發明專利]一種測試例庫生成方法、系統、設備及介質

在審

• 申請號: 202310418810.8
• 申請日: 2023-04-14
• 公開（公告）號: CN116401171A
• 公開（公告）日: 2023-07-07
• 發明（設計）人: 王凱;符云越;劉凱
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京連和連知識產權代理有限公司 11278
• 代理人: 張元;馬鵬林

1.一種測試例庫生成方法，其特征在于，包括：

基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽；

對于具體的測試芯片根據所述基礎測試標簽對每個基礎測試標簽分別生成關于所述測試芯片的多個子測試標簽；

將多個基礎測試標簽對應的子測試標簽進行排列組合形成基本測試用例庫。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽包括：

基于處理器的工作模式生成關于處理器工作模式的基礎測試標簽；

基于處理器的運行速率生成關于處理器速率的基礎測試標簽。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽包括：

基于處理器上的對應的功能的子系統生成對應的子系統基礎測試標簽；

基于處理器通用的基礎模塊生成對應的基礎配置測試標簽。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，其特征在于，所述對于具體的測試芯片根據所述基礎測試標簽對每個基礎測試標簽分別生成關于所述測試芯片的多個子測試標簽包括：

對于確定的測試芯片根據操作系統在所述測試芯片上對應的工作模式，并基于所述處理器工作模式的基礎測試標簽生成多種工作模式的處理工作模式子測試標簽；

根據所述測試芯片運行頻率生成多個關于所述測試芯片的處理器速率的子測試標簽；

根據所述測試芯片中具有的對應的功能子系統生成多個對應的子系統基礎測試的子標簽；

根據所述測試芯片中具有的基礎模塊生成對應的基礎配置的測試子標簽。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將多個基礎測試標簽對應的子測試標簽進行排列組合形成基本測試用例庫包括：

從每個基礎測試標簽分類下的多個子測試標簽中選擇一個子測試標簽與其他基礎測試標簽分類下對應的子測試標簽組成基本測試用例，并將基本測試用例添加到基本測試用例庫。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

提供選擇接口，通過所述選擇接口接收基本測試用例庫中對應的基本測試用例的選擇概率和測試用例數量。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，還包括：

響應于通過所述選擇接口收到用戶輸入的基本測試用例的選擇概率和測試用例數量；

基于基本測試用例的選擇概率從所述基本測試用例庫中隨機選擇出滿足所述測試用例數量個數的基板測試用例。

8.一種測試例庫生成系統，其特征在于，包括：

測試分類模塊，所述測試分類模塊配置用于基于系統驗證特性將芯片測試類型分成多個基礎測試標簽；

子標簽生成模塊，所述子標簽生成模塊配置用于對于具體的測試芯片根據所述基礎測試標簽對每個基礎測試標簽分別生成關于所述測試芯片的多個子測試標簽；

測試用例生成模塊，所述測試用例生成模塊配置用于將多個基礎測試標簽對應的子測試標簽進行排列組合形成基本測試用例庫。

9.一種計算機設備，其特征在于，包括：

至少一個處理器；以及

存儲器，所述存儲器存儲有可在所述處理器上運行的計算機指令，所述指令由所述處理器執行時實現權利要求1-7任意一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1-7任意一項所述方法的步驟。