[發(fā)明專(zhuān)利]一種幾何尺寸檢測(cè)裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310372316.2 | 申請(qǐng)日: | 2023-04-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116481425A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-07-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王靜;劉銳;倪志龍;王穎;包箭華;王道龍;王釗;周程麗;畢浩;肖攀 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 武漢睿芯特種光纖有限責(zé)任公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B11/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 孟紫琴 |
| 地址: | 430078 湖北省武漢市東湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 幾何 尺寸 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供一種幾何尺寸檢測(cè)裝置及方法,其中檢測(cè)裝置包括光源組件、干涉圖形成組件以及圖像處理系統(tǒng),所述光源組件設(shè)置在待測(cè)光纖預(yù)制棒的一側(cè),用于提供偏振光,以使所述偏振光投射在所述待測(cè)光纖預(yù)制棒上,所述干涉圖形成組件設(shè)置在所述待測(cè)光纖預(yù)制棒的另一側(cè),所述干涉圖形成組件基于雙折射產(chǎn)生的尋常光和非常光形成干涉圖像,所述圖像處理系統(tǒng)用于采集所述干涉圖像,并基于采集所得的圖像檢測(cè)所述待測(cè)光纖預(yù)制棒的幾何尺寸。本發(fā)明提供的幾何尺寸檢測(cè)裝置及方法,能夠直接完整且無(wú)損傷地檢測(cè)多邊形光纖預(yù)制棒的幾何尺寸,無(wú)需將光纖預(yù)制棒提前拉制成光纖,也無(wú)需切片,提高了研發(fā)生產(chǎn)效率,實(shí)現(xiàn)了從源頭控制多邊形光纖預(yù)制棒的幾何尺寸。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光纖測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種幾何尺寸檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù)
幾何尺寸是光纖質(zhì)量檢測(cè)的重要測(cè)試內(nèi)容之一,也是表征光纖和光源耦合效率的重要參數(shù),對(duì)光纖的連接損耗、彎曲損耗等都有影響。多邊形光纖預(yù)制棒作為雙包層增益光纖的制備材料,其內(nèi)外部結(jié)構(gòu)決定了雙包層增益光纖的內(nèi)外部結(jié)構(gòu)。如何檢測(cè)多邊形光纖預(yù)制棒的幾何尺寸,也是光纖預(yù)制棒質(zhì)量檢測(cè)的重要內(nèi)容。
目前,針對(duì)多邊形光纖預(yù)制棒的幾何尺寸檢測(cè),主要方案有三種,一是將多邊形光纖預(yù)制棒拉制成光纖,光纖經(jīng)過(guò)端面切平,放置于顯微鏡下進(jìn)行端面幾何檢測(cè),整個(gè)流程從預(yù)制棒制備、拉絲再到測(cè)試,工藝流程長(zhǎng),反饋速度慢,大大影響了研發(fā)生產(chǎn)效率。二是將多邊形光纖預(yù)制棒沿縱向切成一個(gè)個(gè)切片,切片經(jīng)過(guò)端面研磨、拋光后進(jìn)行端面幾何檢測(cè),該方法破壞了多邊形光纖預(yù)制棒的完整性,即使幾何尺寸合格也無(wú)法拉制成光纖,必須重新制備,大大增加了研發(fā)生產(chǎn)成本。三是美國(guó)生產(chǎn)的光纖預(yù)制棒檢測(cè)裝置,此裝置僅能檢測(cè)形狀為圓形的光纖預(yù)制棒的幾何尺寸,對(duì)于多邊形光纖預(yù)制棒的幾何尺寸無(wú)法檢測(cè)。
如此一來(lái),如何實(shí)現(xiàn)在保證生產(chǎn)效率的同時(shí),對(duì)光纖預(yù)制棒的幾何尺寸進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),依然是光纖測(cè)試領(lǐng)域亟待解決的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題,本發(fā)明提供一種幾何尺寸檢測(cè)裝置及方法,能夠在保證生產(chǎn)效率的同時(shí),直接完整且無(wú)損傷地檢測(cè)多邊形光纖預(yù)制棒的幾何尺寸。
本發(fā)明提供一種幾何尺寸檢測(cè)裝置,包括:
光源組件,所述光源組件設(shè)置在待測(cè)光纖預(yù)制棒的一側(cè),所述光源組件用于提供偏振光,以使所述偏振光投射在所述待測(cè)光纖預(yù)制棒上;
干涉圖形成組件,所述干涉圖形成組件設(shè)置在所述待測(cè)光纖預(yù)制棒的另一側(cè),所述干涉圖形成組件基于雙折射產(chǎn)生的尋常光和非常光形成干涉圖像;
圖像處理系統(tǒng),所述圖像處理系統(tǒng)用于采集所述干涉圖像,并基于采集所得的圖像檢測(cè)所述待測(cè)光纖預(yù)制棒的幾何尺寸。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種幾何尺寸檢測(cè)裝置,所述圖像處理系統(tǒng)包括:
光學(xué)系統(tǒng),用于對(duì)所述干涉圖像進(jìn)行縮放,得到第一圖像;
成像系統(tǒng),用于采集所述第一圖像,得到第二圖像,并基于所述第二圖像檢測(cè)所述待測(cè)光纖預(yù)制棒的幾何尺寸。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種幾何尺寸檢測(cè)裝置,所述光學(xué)系統(tǒng)包括:
第一光學(xué)子系統(tǒng),用于基于第一倍率對(duì)所述干涉圖像進(jìn)行縮小,得到第一縮小圖像;
第二光學(xué)子系統(tǒng),用于基于第二倍率對(duì)所述第一縮小圖像進(jìn)行放大,得到第二放大圖像,將所述第二放大圖像作為所述第一圖像。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種幾何尺寸檢測(cè)裝置,所述光源組件包括:
光源,用于發(fā)射光束;
聚焦鏡,用于對(duì)所述光束進(jìn)行聚焦以發(fā)出聚焦平面光;
起偏鏡,用于將所述聚焦平面光轉(zhuǎn)化為所述偏振光;
所述干涉圖形成組件包括檢偏鏡;
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