[發明專利]一種幾何尺寸檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202310372316.2
• 申請日: 2023-04-03
• 公開（公告）號: CN116481425A
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 王靜;劉銳;倪志龍;王穎;包箭華;王道龍;王釗;周程麗;畢浩;肖攀
• 申請（專利權）人: 武漢睿芯特種光纖有限責任公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 孟紫琴

1.一種幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，包括：

光源組件，所述光源組件設置在待測光纖預制棒的一側，所述光源組件用于提供偏振光，以使所述偏振光投射在所述待測光纖預制棒上；

干涉圖形成組件，所述干涉圖形成組件設置在所述待測光纖預制棒的另一側，所述干涉圖形成組件基于雙折射產生的尋常光和非常光形成干涉圖像；

圖像處理系統，所述圖像處理系統用于采集所述干涉圖像，并基于采集所得的圖像檢測所述待測光纖預制棒的幾何尺寸。

2.根據權利要求1所述的幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，所述圖像處理系統包括：

光學系統，用于對所述干涉圖像進行縮放，得到第一圖像；

成像系統，用于采集所述第一圖像，得到第二圖像，并基于所述第二圖像檢測所述待測光纖預制棒的幾何尺寸。

3.根據權利要求2所述的幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，所述光學系統包括：

第一光學子系統，用于基于第一倍率對所述干涉圖像進行縮小，得到第一縮小圖像；

第二光學子系統，用于基于第二倍率對所述第一縮小圖像進行放大，得到第二放大圖像，將所述第二放大圖像作為所述第一圖像。

4.根據權利要求2所述的幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，所述光源組件包括：

光源，用于發射光束；

聚焦鏡，用于對所述光束進行聚焦以發出聚焦平面光；

起偏鏡，用于將所述聚焦平面光轉化為所述偏振光；

所述干涉圖形成組件包括檢偏鏡；

所述聚焦鏡、所述起偏鏡、所述檢偏鏡和所述光學系統位于同一光路，且中心位于同一水平位置上。

5.根據權利要求4所述的幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，所述光源設置在所述聚焦鏡的鏡桶內，且所述光源在所述鏡桶內的水平面和豎直平面上位置可調。

6.根據權利要求4所述的幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，所述光源組件還包括：

全波鏡，用于增加所述偏振光的光程差；

所述起偏鏡、所述全波鏡和所述檢偏鏡設置在可調節支架上，且所述起偏鏡、所述全波鏡和所述檢偏鏡的中心位于同一水平線上。

7.根據權利要求1至6任一項所述的幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，還包括：

位移平臺，用于帶動所述待測光纖預制棒在水平面上移動。

8.根據權利要求7所述的幾何尺寸檢測裝置，其特征在于，所述位移平臺具體用于：

帶動所述待測光纖預制棒在水平面上的X方向和/或Y方向移動；

所述X方向與所述偏振光所在的光路垂直，所述Y方向垂直于所述X方向。

9.一種幾何尺寸檢測方法，其特征在于，包括：

對干涉圖像進行采集，所述干涉圖像是偏振光在待測光纖預制棒上產生雙折射所得的尋常光和非常光形成的；

基于采集所得的圖像，檢測所述待測光纖預制棒的幾何尺寸。

10.根據權利要求9所述的幾何尺寸檢測方法，其特征在于，所述基于采集所得的圖像，檢測所述待測光纖預制棒的幾何尺寸，包括：

基于采集所得的圖像，檢測所述待測光纖預制棒在被測位置處的幾何尺寸，所述被測位置為所述待測光纖預制棒上產生雙折射的縱向位置；

所述基于采集所得的圖像，檢測所述待測光纖預制棒的幾何尺寸，之后還包括：

控制位移平臺帶動所述待測光纖預制棒移動，以調整所述被測位置，并在調整完成后對所述干涉圖像進行采集。