[發(fā)明專利]電子內窺鏡系統(tǒng)加速老化試驗方法、裝置、設備及介質在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310366496.3 | 申請日: | 2023-04-07 | 
| 公開(公告)號: | CN116430143A | 公開(公告)日: | 2023-07-14 | 
| 發(fā)明(設計)人: | 郭建麗 | 申請(專利權)人: | 重慶金山醫(yī)療技術研究院有限公司 | 
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01D21/02 | 
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 11227 | 代理人: | 豆貝貝 | 
| 地址: | 401120 重慶市渝北區(qū)回興*** | 國省代碼: | 重慶;50 | 
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 內窺鏡 系統(tǒng) 加速 老化試驗 方法 裝置 設備 介質 | ||
本申請公開了一種電子內窺鏡系統(tǒng)加速老化試驗方法、裝置、設備及介質,涉及電子內窺鏡系統(tǒng)領域,包括:確定對電子內窺鏡系統(tǒng)進行加速老化存儲試驗和加速老化工作試驗時分別允許的試驗參數(shù);將試驗參數(shù)輸入至加速老化模型以計算加速老化因子;計算電子內窺鏡系統(tǒng)在預設使用期限內的總上電工作時長和總斷電時長;根據(jù)基于加速老化因子、總上電工作時長和總斷電時長計算出加速老化工作時間和加速老化存儲時間,進而根據(jù)參數(shù)和時間這些試驗條件對電子內窺鏡系統(tǒng)進行加速老化試驗。本申請將加速老化試驗分為加速老化存儲和加速老化工作兩部分,模擬實際臨床中開機和關機的場景,使得試驗更貼近電子內窺鏡的實際使用情況,從而提高試驗結果的準確性。
技術領域
本發(fā)明涉及電子內窺鏡系統(tǒng)領域,特別涉及一種電子內窺鏡系統(tǒng)加速老化試驗方法、裝置、設備及介質。
背景技術
當前,電子內窺鏡系統(tǒng)涉及光學、電子學、機械學、人體工程學等多個交叉學科,產(chǎn)品結構往往非常復雜,而且應用在醫(yī)學中對產(chǎn)品的可靠性要求也很高,要想在產(chǎn)品有效期內擁有較高的可靠性就需要提前在開發(fā)驗證階段做充分的測試驗證,并且產(chǎn)品在出廠前都會通過加速老化試驗來進行可靠性研究,一般需要根據(jù)具體的產(chǎn)品特性,考慮主要的影響因子,從而選定合適的加速老化模型進行試驗。
由于電子產(chǎn)品在實際使用中主要受到環(huán)境溫度和濕度因素的影響,一般采用最弱鏈條的失效模型,通過提高溫度和濕度來考核產(chǎn)品的使用壽命,通常選用peck模型計算加速因子,然后通過預期使用壽命直接除以加速因子計算出加速老化時間,進行加速老化工作試驗,但是這樣方式,并沒有充分考慮到產(chǎn)品的實際使用場景,實際產(chǎn)品不是一直處于開機不斷電狀態(tài),這樣的試驗結果不準確,從而導致評估出的產(chǎn)品使用壽命可能存在偏差。
發(fā)明內容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種電子內窺鏡系統(tǒng)加速老化試驗方法、裝置、設備及介質,能夠提高加速老化試驗結果的準確性。其具體方案如下:
第一方面,本申請公開了一種電子內窺鏡系統(tǒng)加速老化試驗方法,包括:
確定對電子內窺鏡系統(tǒng)進行加速老化存儲試驗時所允許的存儲溫濕度試驗參數(shù)以及進行加速老化工作試驗所允許的工作溫濕度試驗參數(shù);
將所述存儲溫濕度試驗參數(shù)和所述工作溫濕度試驗參數(shù)輸入至預先創(chuàng)建的加速老化模型以計算出與所述加速老化存儲試驗和所述加速老化工作試驗分別對應的加速老化因子;
計算所述電子內窺鏡系統(tǒng)在預設使用期限內的總上電工作累計時長和總斷電累計時長;
基于所述加速老化因子、所述總上電工作累計時長和所述總斷電累計時長計算出加速老化工作時間和加速老化存儲時間;
根據(jù)所述存儲溫濕度試驗參數(shù)和所述加速老化存儲時間以及所述工作溫濕度試驗參數(shù)和所述加速老化工作時間對所述電子內窺鏡系統(tǒng)進行所述加速老化存儲試驗和所述加速老化工作試驗。
可選的,所述確定對電子內窺鏡系統(tǒng)進行加速老化存儲試驗時所允許的存儲溫濕度試驗參數(shù)以及進行加速老化工作試驗所允許的工作溫濕度試驗參數(shù),包括:
統(tǒng)計所述電子內窺鏡系統(tǒng)對應的物料清單中所有關鍵元器件分別處于存放狀態(tài)和工作狀態(tài)時所允許的最高溫濕度;
從所有所述關鍵元器件分別處于所述存放狀態(tài)和所述工作狀態(tài)時所允許的所述最高溫濕度中選取所述存放狀態(tài)對應的存儲溫濕度最小值和所述工作狀態(tài)對應的工作溫濕度最小值;
將所述存儲溫濕度最小值確定為對所述電子內窺鏡系統(tǒng)進行加速老化存儲試驗時所允許的存儲溫濕度試驗參數(shù),并將所述工作溫濕度最小值確定為對所述電子內窺鏡系統(tǒng)進行加速老化工作試驗所允許的工作溫濕度試驗參數(shù)。
可選的,所述計算所述電子內窺鏡系統(tǒng)在預設使用期限內的總上電工作累計時長和總斷電累計時長,包括:
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于重慶金山醫(yī)療技術研究院有限公司,未經(jīng)重慶金山醫(yī)療技術研究院有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310366496.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





