[發明專利]電子內窺鏡系統加速老化試驗方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202310366496.3
• 申請日: 2023-04-07
• 公開（公告）號: CN116430143A
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 郭建麗
• 申請（專利權）人: 重慶金山醫療技術研究院有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01D21/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 豆貝貝

1.一種電子內窺鏡系統加速老化試驗方法，其特征在于，包括：

確定對電子內窺鏡系統進行加速老化存儲試驗時所允許的存儲溫濕度試驗參數以及進行加速老化工作試驗所允許的工作溫濕度試驗參數；

將所述存儲溫濕度試驗參數和所述工作溫濕度試驗參數輸入至預先創建的加速老化模型以計算出與所述加速老化存儲試驗和所述加速老化工作試驗分別對應的加速老化因子；

計算所述電子內窺鏡系統在預設使用期限內的總上電工作累計時長和總斷電累計時長；

基于所述加速老化因子、所述總上電工作累計時長和所述總斷電累計時長計算出加速老化工作時間和加速老化存儲時間；

根據所述存儲溫濕度試驗參數和所述加速老化存儲時間以及所述工作溫濕度試驗參數和所述加速老化工作時間對所述電子內窺鏡系統進行所述加速老化存儲試驗和所述加速老化工作試驗。

2.根據權利要求1所述的電子內窺鏡系統加速老化試驗方法，其特征在于，所述確定對電子內窺鏡系統進行加速老化存儲試驗時所允許的存儲溫濕度試驗參數以及進行加速老化工作試驗所允許的工作溫濕度試驗參數，包括：

統計所述電子內窺鏡系統對應的物料清單中所有關鍵元器件分別處于存放狀態和工作狀態時所允許的最高溫濕度；

從所有所述關鍵元器件分別處于所述存放狀態和所述工作狀態時所允許的所述最高溫濕度中選取所述存放狀態對應的存儲溫濕度最小值和所述工作狀態對應的工作溫濕度最小值；

將所述存儲溫濕度最小值確定為對所述電子內窺鏡系統進行加速老化存儲試驗時所允許的存儲溫濕度試驗參數，并將所述工作溫濕度最小值確定為對所述電子內窺鏡系統進行加速老化工作試驗所允許的工作溫濕度試驗參數。

3.根據權利要求1所述的電子內窺鏡系統加速老化試驗方法，其特征在于，所述計算所述電子內窺鏡系統在預設使用期限內的總上電工作累計時長和總斷電累計時長，包括：

統計臨床使用場景中所述電子內窺鏡系統每次上電的工作時間和每天上電的工作次數，并計算所述工作時間的時間平均值和所述工作次數的次數平均值；

根據所述時間平均值和所述次數平均值計算所述電子內窺鏡系統在預設使用期限內的總上電工作累計時長；

根據所述預設使用期限內的總時長和所述總上電工作累計時長確定出總斷電累計時長。

4.根據權利要求3所述的電子內窺鏡系統加速老化試驗方法，其特征在于，所述根據所述預設使用期限內的總時長和所述總上電工作累計時長確定出總斷電累計時長，包括：

將所述預設使用期限內的總時長與所述總上電工作累計時長之間的差值確定為總斷電累計時長。

5.根據權利要求1所述的電子內窺鏡系統加速老化試驗方法，其特征在于，對所述電子內窺鏡系統進行所述加速老化存儲試驗和所述加速老化工作試驗的過程中，還包括：

定期監測所述電子內窺鏡系統的功能和性能是否出現異常得到相應的監測結果；

基于所述監測結果確定是否停止相應的加速老化試驗。

6.根據權利要求5所述的電子內窺鏡系統加速老化試驗方法，其特征在于，所述基于所述監測結果確定是否停止相應的加速老化試驗，包括：

若所述監測結果表明在開展相應的加速老化試驗的過程中所述電子內窺鏡系統的功能和性能出現異常，則停止相應的加速老化試驗；

若所述監測結果表明在開展相應的加速老化試驗的過程中所述電子內窺鏡系統的功能和性能未出現異常，則繼續開展相應的老化加速試驗。

7.根據權利要求1至6任一項所述的電子內窺鏡系統加速老化試驗方法，其特征在于，對所述電子內窺鏡系統進行所述加速老化存儲試驗和所述加速老化工作試驗的過程中，還包括：

記錄所述加速老化存儲試驗和所述加速老化工作試驗的實際試驗時間；

根據所述實際試驗時間計算出所述電子內窺鏡系統的實際使用壽命。