[發(fā)明專利]基于多元性能退化的可靠性評(píng)價(jià)方法、裝置和設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310349715.7 | 申請(qǐng)日: | 2023-04-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116127785B | 公開(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘廣澤;李丹;陳勃琛;孫立軍;王遠(yuǎn)航;劉文威;楊劍鋒;丁小健 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室)) |
| 主分類號(hào): | G06F30/20 | 分類號(hào): | G06F30/20;G06F119/02 |
| 代理公司: | 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 左幫勝 |
| 地址: | 511370 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 多元 性能 退化 可靠性 評(píng)價(jià) 方法 裝置 設(shè)備 | ||
本申請(qǐng)涉及一種基于多元性能退化的可靠性評(píng)價(jià)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。該方法包括:對(duì)于目標(biāo)產(chǎn)品包括的多個(gè)性能中的各個(gè)性能,獲取該性能可能服從的多個(gè)候選函數(shù),并從該多個(gè)候選函數(shù)中確定滿足預(yù)設(shè)優(yōu)選條件的目標(biāo)函數(shù),根據(jù)該目標(biāo)函數(shù)確定該性能對(duì)應(yīng)的可靠度函數(shù);確定該目標(biāo)產(chǎn)品的多個(gè)性能之間的耦合關(guān)系信息,并獲取該目標(biāo)產(chǎn)品的多個(gè)性能的冗余情況信息;根據(jù)該耦合關(guān)系信息、該冗余情況信息以及各該性能的可靠度函數(shù)對(duì)該目標(biāo)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)。采用本方法可以實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品的多元性能退化進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià),該方法不僅適用范圍廣,且得到的評(píng)價(jià)結(jié)果精準(zhǔn)度也較高。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種基于多元性能退化的可靠性評(píng)價(jià)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
背景技術(shù)
可靠性評(píng)價(jià)是指利用產(chǎn)品壽命周期各階段所產(chǎn)生的試驗(yàn)或使用信息,用概率統(tǒng)計(jì)的方法給出產(chǎn)品在某一特定條件下的可靠性的估計(jì)值,產(chǎn)品可靠性評(píng)價(jià)是可靠性工程的重要組成部分。
傳統(tǒng)技術(shù)中,絕大多數(shù)的可靠性評(píng)價(jià)方法往往僅考慮產(chǎn)品單一性能的隨機(jī)退化過程,也即是針對(duì)產(chǎn)品單個(gè)性能退化進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià),還未有基于產(chǎn)品多元性能退化的可靠性評(píng)價(jià)方法。
因此,亟需一種基于產(chǎn)品多元性能退化的可靠性評(píng)價(jià)方法。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對(duì)上述技術(shù)問題,提供一種基于多元性能退化的可靠性評(píng)價(jià)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N基于多元性能退化的可靠性評(píng)價(jià)方法,該方法包括:對(duì)于目標(biāo)產(chǎn)品包括的多個(gè)性能中的各個(gè)性能,獲取該性能可能服從的多個(gè)候選函數(shù),并從該多個(gè)候選函數(shù)中確定滿足預(yù)設(shè)優(yōu)選條件的目標(biāo)函數(shù),根據(jù)該目標(biāo)函數(shù)確定該性能對(duì)應(yīng)的可靠度函數(shù);確定該目標(biāo)產(chǎn)品的多個(gè)性能之間的耦合關(guān)系信息,并獲取該目標(biāo)產(chǎn)品的多個(gè)性能的冗余情況信息;根據(jù)該耦合關(guān)系信息、該冗余情況信息以及各該性能的可靠度函數(shù)對(duì)該目標(biāo)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,從該多個(gè)候選函數(shù)中確定滿足預(yù)設(shè)優(yōu)選條件的目標(biāo)函數(shù),包括:采用相互系數(shù)最大算法,計(jì)算各個(gè)該候選函數(shù)包括的未知參數(shù)的參數(shù)值,以得到多個(gè)中間函數(shù);從多個(gè)該中間函數(shù)中確定滿足該預(yù)設(shè)優(yōu)選條件的該目標(biāo)函數(shù)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,該采用相互系數(shù)最大算法,計(jì)算各個(gè)該候選函數(shù)包括的未知參數(shù)的參數(shù)值,得到多個(gè)中間函數(shù),包括:對(duì)于各個(gè)該候選函數(shù),獲取該候選函數(shù)包括的未知參數(shù)的多組可能的候選參數(shù)值;對(duì)于每組該候選參數(shù)值,獲取該候選函數(shù)包括的未知參數(shù)為該候選參數(shù)值時(shí),該候選函數(shù)與產(chǎn)品性能退化參數(shù)之間的相關(guān)性參數(shù);根據(jù)每組該候選參數(shù)值分別對(duì)應(yīng)的相關(guān)性參數(shù),從多組該候選參數(shù)值中確定目標(biāo)參數(shù)值,并將該目標(biāo)參數(shù)值作為該候選函數(shù)包括的未知參數(shù)的參數(shù)值,以得到該候選函數(shù)對(duì)應(yīng)的該中間函數(shù)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,該從多個(gè)該中間函數(shù)中確定滿足該預(yù)設(shè)優(yōu)選條件的該目標(biāo)函數(shù),包括:確定各個(gè)該中間函數(shù)與產(chǎn)品性能退化參數(shù)之間的相關(guān)性參數(shù),并將對(duì)應(yīng)的相關(guān)性參數(shù)最大的該中間函數(shù)確定為該目標(biāo)函數(shù)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,該根據(jù)該目標(biāo)函數(shù)確定該性能對(duì)應(yīng)的可靠度函數(shù),包括:根據(jù)該目標(biāo)函數(shù)確定維納過程函數(shù),并求解得到該維納過程函數(shù)包括的未知參數(shù)的參數(shù)值;根據(jù)該維納過程函數(shù)包括的未知參數(shù)的參數(shù)值以及該目標(biāo)函數(shù)確定該性能對(duì)應(yīng)的可靠度函數(shù)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,該耦合關(guān)系信息用于指示該多個(gè)性能中相互具有耦合關(guān)系的性能以及相互獨(dú)立的性能;該冗余情況信息用于指示該目標(biāo)產(chǎn)品的多個(gè)性能為無冗余情況或者有冗余情況,其中,該無冗余情況為該目標(biāo)產(chǎn)品的任一性能失效則該目標(biāo)產(chǎn)品失效的情況,該有冗余情況為該目標(biāo)產(chǎn)品的所有性能均失效則該目標(biāo)產(chǎn)品失效的情況。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室)),未經(jīng)中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室))許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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