[發明專利]基于多元性能退化的可靠性評價方法、裝置和設備

有效

• 申請號: 202310349715.7
• 申請日: 2023-04-04
• 公開（公告）號: CN116127785B
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發明（設計）人: 潘廣澤;李丹;陳勃琛;孫立軍;王遠航;劉文威;楊劍鋒;丁小健
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F119/02
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 左幫勝

1.一種基于多元性能退化的可靠性評價方法，其特征在于，所述方法包括：

對于目標產品包括的多個性能中的各個性能，獲取所述性能可能服從的多個候選函數；

對于各個所述候選函數，獲取所述候選函數包括的未知參數的多組可能的候選參數值；

對于每組所述候選參數值，獲取所述候選函數包括的未知參數為所述候選參數值時，所述候選函數與產品性能退化參數之間的相關性參數；

根據每組所述候選參數值分別對應的相關性參數，從多組所述候選參數值中確定目標參數值，并將所述目標參數值作為所述候選函數包括的未知參數的參數值，以得到所述候選函數對應的中間函數；

從多個所述中間函數中確定滿足預設條件的目標函數；

根據所述目標函數確定所述性能對應的可靠度函數；

確定所述目標產品的多個性能之間的耦合關系信息，并獲取所述目標產品的多個性能的冗余情況信息，所述耦合關系信息用于指示所述多個性能中相互具有耦合關系的性能以及相互獨立的性能，所述冗余情況信息用于指示所述目標產品的多個性能為無冗余情況或者有冗余情況，其中，所述無冗余情況為所述目標產品的任一性能失效則所述目標產品失效的情況，所述有冗余情況為所述目標產品的所有性能均失效則所述目標產品失效的情況；

根據所述耦合關系信息、所述冗余情況信息以及各所述性能的可靠度函數確定所述目標產品對應的可靠度函數；

根據所述目標產品對應的可靠度函數確定所述目標產品對應的產品平均故障間隔時間函數和產品失效率函數；

根據所述產品平均故障間隔時間函數和所述產品失效率函數對所述目標產品進行可靠性評價。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述從多個所述中間函數中確定滿足所述預設條件的所述目標函數，包括：

確定各個所述中間函數與產品性能退化參數之間的相關性參數，并將對應的相關性參數最大的所述中間函數確定為所述目標函數。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標函數確定所述性能對應的可靠度函數，包括：

根據所述目標函數確定維納過程函數，并求解得到所述維納過程函數包括的未知參數的參數值；

根據所述維納過程函數包括的未知參數的參數值以及所述目標函數確定所述性能對應的可靠度函數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述中間函數為包括有未知參數參數值的所述候選函數。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述可靠度函數為所述性能退化失效的可靠度函數。

6.一種基于多元性能退化的可靠性評價裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一執行模塊，用于對于目標產品包括的多個性能中的各個性能，獲取所述性能可能服從的多個候選函數，對于各個所述候選函數，獲取所述候選函數包括的未知參數的多組可能的候選參數值；對于每組所述候選參數值，獲取所述候選函數包括的未知參數為所述候選參數值時，所述候選函數與產品性能退化參數之間的相關性參數；根據每組所述候選參數值分別對應的相關性參數，從多組所述候選參數值中確定目標參數值，并將所述目標參數值作為所述候選函數包括的未知參數的參數值，以得到所述候選函數對應的中間函數；從多個所述中間函數中確定滿足預設條件的目標函數；根據所述目標函數確定所述性能對應的可靠度函數；

第二執行模塊，用于確定所述目標產品的多個性能之間的耦合關系信息，并獲取所述目標產品的多個性能的冗余情況信息，所述耦合關系信息用于指示所述多個性能中相互具有耦合關系的性能以及相互獨立的性能，所述冗余情況信息用于指示所述目標產品的多個性能為無冗余情況或者有冗余情況，其中，所述無冗余情況為所述目標產品的任一性能失效則所述目標產品失效的情況，所述有冗余情況為所述目標產品的所有性能均失效則所述目標產品失效的情況；

第三執行模塊，用于根據所述耦合關系信息、所述冗余情況信息以及各所述性能的可靠度函數確定所述目標產品對應的可靠度函數；根據所述目標產品對應的可靠度函數確定所述目標產品對應的產品平均故障間隔時間函數和產品失效率函數；根據所述產品平均故障間隔時間函數和所述產品失效率函數對所述目標產品進行可靠性評價。